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CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法

CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法

定　价：¥16.00

作　者： （美）R.R.特劳特曼（R.R.Troutman）著；嵇光大，卢文豪译
出版社： 科学出版社
丛编项： 微电子学系列
标　签： 互补MOS集成电路
ISBN： 9787030048578 出版时间： 1996-04-01 包装：
开本： 20cm 页数： 210页 字数：  

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暂缺《CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法》简介

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