表面与薄膜分析基础

定　价：¥3.35

作　者：	（美）[费尔德曼]Leonard C.Feldman，（美）[迈耶]James W.Mayer著；严燕来，蒋平译
出版社：	复旦大学出版社
丛编项：
标　签：	工程材料表面分析

ISBN：	9787309003604	出版时间：	1989-10-01	包装：
开本：	20cm	页数：	403页	字数：

　　本书论述了用于材料表面和薄膜的各种重要的现代分析技术，包括背散射谱、低能电子衍射、次级离子质谱、广延X射线精细结构、光电子谱及核技术等。

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