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数据域测试技术及仪器

数据域测试技术及仪器

定　价：¥17.30

作　者：	杨吉祥编著
出版社：	科学出版社
丛编项：
标　签：	数字系统

ISBN：	9787030018090	出版时间：	1990-01-01	包装：
开本：	26cm	页数：	303页	字数：

内容简介

　　本书论述数字系统（包括LSI/MSI/SSI电路、印制电路板及计算机等）的测试理论、测试设备及测试系统。

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