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电子产品可靠性试验

电子产品可靠性试验

定　价：¥4.20

作　者：	卢昆祥编著
出版社：	天津科学技术出版社
丛编项：
标　签：	测试电子元件

ISBN：	9787530801956	出版时间：	1987-12-01	包装：
开本：	26cm	页数：	304页	字数：

内容简介

　　本书是电子产品可靠性试验的中级读物。内容包括电子元器件和可靠性试验和电子设备可靠性试验两大部分。

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