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现代光电测试技术

现代光电测试技术

定　价：¥35.00

作　者：	顾文郁编译
出版社：	上海科学技术文献出版社
丛编项：
标　签：	光电子技术测试

ISBN：	9787543902633	出版时间：	1994-06-01	包装：
开本：	26cm	页数：	400页	字数：

内容简介

　　介绍以光电子学为中心、特别是光学与电子计算机相结合的最优结合的最优化测试法。

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