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高频、微波半导体器件的计量测试

高频、微波半导体器件的计量测试

定　价：¥4.20

作　者： 曹余录等编著
出版社： 中国计量出版社
丛编项： 无线电计量测试丛书
标　签： 高频 微波频率
ISBN： 9787502605629 出版时间： 1992-12-01 包装：
开本： 19cm 页数： 162页 字数：  

内容简介

　　本书内容包括：晶体管直流参数计量测试，高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。

作者简介

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