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计算机测试与控制

计算机测试与控制

定 价:¥3.85

作 者: 李行善编著
出版社: 北京航空航天大学出版社
丛编项:
标 签: 微型计算机

ISBN: 9787810121453 出版时间: 1990-01-01 包装:
开本: 26cm 页数: 299页 字数:  

内容简介

  本书从应用角度全面阐述了采用微型计算机解决测控问题时所涉及的软、硬件技术问题。

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