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仪器仪表可靠性设计

仪器仪表可靠性设计

定　价：¥4.05

作　者：	邹桂根主编
出版社：	上海交通大学出版社
丛编项：
标　签：	仪器可靠性

ISBN：	9787313002617	出版时间：	1990-03-01	包装：
开本：	26cm	页数：	321页	字数：

内容简介

　　本书介绍了机、电两大学科领域可靠性工程中的理论要点、可靠性特性征量、失效分布类型及其特性、叙述了仪器零件和电子元器件的可靠性。

作者简介

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