第一章 绪论
1.1 尺寸效应
1.2 纳米结构功能材料与器件的分子工程研究
1.3 纳米结构分析器件
参考文献
第二章 扫描隧道显微术
2.1 STM基础知识
2.2 STM实验方法
2.3 STM应用举例
参考文献
第三章 原子力显微术
3.1 AFM基础知识
3.2 AFM的不同操作模式
3.3 纳米材料研究中的AFM
参考文献
第四章 针尖化学
4.1 针尖化学的概念
4.2 针尖的化学修饰方法
4.3 分子间力与表面力
4.4 化学力滴定
4.5 表面化学识别
4.6 表面化学反应的监测
4.7 键能与键强度的测定
4.8 化学反应的限域
4.9 单分子性质测定
参考文献
第五章 XPS及与其他技术组合在纳米材料分析中的应用
5.1 XPS对Au(111)上4-巯基氢化肉桂酸自组装膜的表征
5.2 XPS与高分辨透射与扫描电镜组合对纳米线和纳米电缆的表征
5.3 XPS等研究pH对纳米结晶WO3膜结构和光致变色特性的影响
5.4 角分解XPS(Angle?Resolved XPS,ARXPS)对自组装单层(Self Assembled Monolayers,SAMs)的分析
5.5 XPS等对在引发剂修饰的SAMs上进行聚(CN-异丙基丙烯酸胺)合成的分析
5.6 烷基胺和烷基硫醇对小Pt纳米原子团簇的表面修饰:XPS研究有机配体对小Pt纳米原子团簇结合能的影响
5.7 用XPS峰形分析测定表面纳米结构
5.8 XPS和近边X射线吸收精细结构对Au和Ag上含硫芳香族自组装单层结构的分析
5.9 X射线光电子衍射(Xray Photoelectron Diffraction,XPD)对SiC和AlN外延膜多种类型和极化性的研究
参考文献
第六章 紫外光电子能谱在纳米材料分析中的应用
6.1 第一排过渡金属和C3原子团簇的振动分辨光电子能谱:MC-3(M=Sc,V,Cr,Mn,Fe,Co和Ni)
6.2 UPS等对自组装有机/无机半导体界面上酞菁铅电子结构的分析
6.3 光电发射谱对单壁碳纳米管束的分析
6.4 角分解光电子发射分析准一维导体Nb3Te4
6.5 角分解光电子能谱(ARPES)和STM等分析半导体表面上自组织的量子线
参考文献
第七章 飞行时间二次离子质谱术、电子能量损失谱和表面扩展X射线吸收精细结构等在纳米材料分析中的应用
7.1 飞行时间二次离子质谱术对自组装单层的分析
7.2 电子能量损失谱在纳米材料分析中的应用
7.3 表面扩展X射线吸收精细结构谱等对Cu(100)上自组装纳米尺度Fe岛结构和磁性的分析
7.4 近边X射线吸收精细结构谱(NEXAFS)等对氧化硅纳米原子团的形态、光致发光和电子结构的分析
7.5 XPS等对Si纳米线中表面结构、光致发光和激发的比较研究1
参考文献
第八章 俄歇电子能谱在纳米材料分析中的应用
8.1 引言
8.2 俄歇电子能谱原理
8.3 俄歇电子能谱仪的结构
8.4 俄歇电子能谱的实验技术
8.5 俄歇电子能谱图的分析技术
8.6 俄歇电子能谱在纳米材料研究上的应用
参考文献
第九章 X射线结构分析技术
9.1 X射线衍射分析基础
9.2 X射线衍射的基本理论
9.3 X射线衍射装置和实验
9.4 X射线衍射分析
9.5 纳米材料研究中的XRD分析
参考文献
第十章 纳米材料的颗粒度分析
10.1 基础知识
10.2 粒度分析方法
10.3 粒度分析的样品制备
10.4 粒度分析在纳米材料中的应用
参考文献
第十一章 电子显微分析技术
11.1 透射电镜(TEM)基础知识
11.2 扫描电镜(SEM)基础知识
11.3 电镜技术在纳米材料研究中的应用
参考文献
第十二章 振动光谱技术
12.1 振动光谱的基本原理
12.2 纳米材料的红外吸收和拉曼散射行为
12.3 几种典型的振动光谱实验技术
参考文献