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电子元器件失效分析及应用

电子元器件失效分析及应用

定 价:¥8.00

作 者: 夏泓主编
出版社: 国防工业出版社
丛编项: 可靠性·维修性·保障性丛书 第二批
标 签: 电子元器件

ISBN: 9787118018110 出版时间: 1998-02-01 包装:
开本: 20cm 页数: 155页 字数:  

内容简介

  本书阐述了电子元器件失效分析工作的发展、失效分析的作用;介绍了失效的概念、失效的分类、提出得到失效模式定量判断的一些方法;在论述失效分析的思路和典型程序之后,介绍并评价了元器件失效分析的常用技术、可能的失效原因和机理的假设分析。本书可供研制电子设备的设计和管理元器件的人员、新型电子元器件的设计和管理人员学习。也可供失效分析专业人员参考。...

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