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电子元器件失效分析及应用

电子元器件失效分析及应用

定　价：¥8.00

作　者： 夏泓主编
出版社： 国防工业出版社
丛编项： 可靠性·维修性·保障性丛书 第二批
标　签： 电子元器件
ISBN： 9787118018110 出版时间： 1998-02-01 包装：
开本： 20cm 页数： 155页 字数：  

内容简介

　　本书阐述了电子元器件失效分析工作的发展、失效分析的作用；介绍了失效的概念、失效的分类、提出得到失效模式定量判断的一些方法；在论述失效分析的思路和典型程序之后，介绍并评价了元器件失效分析的常用技术、可能的失效原因和机理的假设分析。本书可供研制电子设备的设计和管理元器件的人员、新型电子元器件的设计和管理人员学习。也可供失效分析专业人员参考。...

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