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现代测试系统

现代测试系统

定　价：¥25.80

作　者：	刘文彦，周学平，刘辉编著
出版社：	国防科技大学出版社
丛编项：
标　签：	自动检测测试技术

ISBN：	9787810243513	出版时间：	1995-01-01	包装：
开本：	26cm	页数：	308页	字数：

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