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近代光学测试技术

近代光学测试技术

定 价:¥39.00

作 者: 杨国光主编
出版社: 浙江大学出版社
丛编项:
标 签: 光学计量

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ISBN: 9787308019514 出版时间: 1997-01-01 包装: 平装
开本: 26cm 页数: 字数:  

内容简介

暂缺《近代光学测试技术》简介

作者简介

暂缺《近代光学测试技术》作者简介

图书目录

前章  光学测试技术综述
编著:杨国光
§0-1 领域与特点
一、研究领域
二、技术特色
§0-2 技术现状
§0-3 方法的选择
§0-4 技术发展的方向
本章参考文献
第一章 光干涉技术
 编著:卓永模
§1-1 光干涉的基础知识
一、相干光场的性质
  二、两个相干波的叠加
  三、部分相干理论
 四、干涉仪常用的光源及激光光源
 五、干涉条纹的间隔和形状
§l-2 近代干涉测试技术
 一、泰曼一格林干涉仪测试
 二、典型的双光束干涉图及其分析
 三、任意波前的干涉图分析
 四、共路干涉仪测试
§1-3 多通道干涉仪测试
  一、双通道干涉仪
 二、多通道干涉仪
§1—4 波面位相的实时检测技术
 一、条纹扫描波面位相实时检测
  二、共路错位扫描干涉仪
 三、实时横向错位干涉仪
 四、外差干涉位相检测
 五、锁相干涉技术
 六、双波长条纹扫描干涉仪
 七、空间调制的波面位相检测
§1-5 长度(间隔、高度、振幅)的激光干涉
 一、激光干涉测长的工作原理及特点
 二、激光干涉测长应解决的几个问题
 三、激光干涉测长的应用
……

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