科学技术测度体系

定　价：¥20.00

作　者：	（美）埃利泽·盖斯勒（Eliezer Geisler）著；周萍[等]译
出版社：	科学技术文献出版社
丛编项：
标　签：	自然科学总论

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ISBN：	9787502344870	出版时间：	2004-03-01	包装：	平装
开本：	21cm	页数：	380	字数：

内容简介

　　本书介绍了评估和测度科技及其成果的体系，在更广泛的测度概念框架内，概述了科技测度问题以及用于评估我们通常归之于科技旗号下的诸多活动的方法。通过将构成了技术成果和进步的背景与测度它们的现有努力相结合，全面展示了过去和现在通过测度技术成就的定性和定量属性来表现这些成就的尝试，以帮助读者理解科学、技术、经济和社会之间的复杂关系，最重要的是，本书详细介绍了用于评估和度量这种关系的测度工具。本书适合作为科学学、管理学、情报学等专业本科生和研究生的辅助读物。也适合于科技管理人员、科技评估人员和科技政策研究人员阅读。