第1章 历史回顾： 可编程逻辑集成电路到专用集成电路ASIC
本章目标1
1.1 可编程只读存储器 PROM 2
1.2 可编程逻辑阵列 PLA 5
1.3 可编程阵列逻辑 PAL 6
1.4 掩膜门阵列ASIC13
1.5 CPLD和FPGA14
1.6 小结15
练习15
第2章 复杂可编程逻辑器件（CPLD）
本章目标17
2.1 CPLD体系结构17
2.2 功能模块18
2.3 I/O模块20
2.4 时钟驱动器21
2.5 内部互连21
2.6 CPLD技术和可编程单元26
2.7 嵌入式器件27
2.8 小结： 选择CPLD的准则28
练习29
第3章 现场可编程门阵列（FPGA）
本章目标31
3.1 FPGA体系结构31
3.2 可配置逻辑模块32
3.3 可配置I/O模块35
3.4 嵌入式器件38
3.5 可编程互连39
3.6 时钟电路41
3.7 SRAM编程与反熔丝编程的对比41
3.8 仿真和ASIC原型44
3.9 小结47
练习48
第4章 可编程器件的通用设计方法论（UDMPD）
本章目标51
4.1 什么是UDM和UDMPD 52
4.2 写出一份设计规范54
4.3 设计规范的评估59
4.4 选择器件和工具59
4.5 设计60
4.6 检验61
4.7 最终评估64
4.8 系统集成与测试64
4.9 产品运输64
4.10 小结64
练习65
第5章 设计技术. 规则和指导方针
本章目标68
5.1 硬件描述语言69
5.2 自上而下的设计方法81
5.3 同步设计85
5.4 悬浮节点102
5.5 总线争抢102
5.6 每个状态一个触发器编码104
5.7 设计测试（DFT）106
5.8 测试备用逻辑107
5.9 初始化状态机109
5.10 可观测的节点109
5.11 扫描技术110
5.12 芯片内装自测试（BIST）112
5.13 特征分析114
5.14 小结114
练习116
第6章 检验
本章目标122
6.1 什么是检验？123
6.2 仿真123
6.3 静态定时分析127
6.4 声明语言127
6.5 整体检验128
6.6 小结128
练习129
第7章 电子设计自动化工具
本章目标132
7.1 仿真软件132
7.2 测试平台发生器140
7.3 现场工具141
7.4 综合软件141
7.5 自动测试比特位模型的产生（ATPG）143
7.6 扫描插入软件143
7.7 芯片内装自测试（BIST）发生器144
7.8 静态定时分析软件145
7.9 整体检验软件147
7.10 布局和布线软件147
7.11 编程工具149
7.12 小结151
练习153
第8章 现在与未来
本章目标155
8.1 内核155
8.2 特殊的I/O驱动器159
8.3 新型结构160
8.4 具有嵌入式FPGA单元的ASIC161
8.5 小结163
附录A答案
第1章, 历史回顾： 可编程逻辑集成电路到专用集成电路ASIC164
第2章, 复杂可编程逻辑器件 CPLD 165
第3章, 现场可编程门阵列 FPGA 165
第4章, 可编程器件的通用设计方法论（UDMPD）167
第5章, 设计技术. 规则和指导方针168
第6章, 检验170
第7章, 电子设计自动化工具171
附录B第5章中各电路原理图的Verilog源程序代码
术语表192
参考文献200
作者简介201
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