材料分析测试技术：材料X射线衍射与电子显微分析

第0章 绪论
第1章 X射线的性质
1.1 引言
1.2 X射线的本质
1.3 X射线的产生及X射线管
1.4 X射线谱
1.5 X射线与物质的相互作用
1.6 X射线的安全防护
习题
第2章 X射线衍射方向
2.1 引言
2.2 晶体几何学基础
2.3 衍射的概念与布拉格方程
2.4 X射线衍射方向
2.5 X射线衍射方法
习题
第3章 X射线衍射强度
3.1 引言
3.2 结构因子
3.3 多晶体的衍射强度
3.4 积分强度计算举例
习题
第4章 多晶体分析方法
4.1 引言
4.2 粉末照相法
4.3 X射线衍射仪
4.4 衍射仪的测量方法与实验参数
4.5 点阵常数的精确测定及其误差分析
习题
第5章 X射线物相分析
5.1 引言
5.2 定性分析的原理和分析思路
5.3 粉末衍射卡片的组成
5.4 PDF卡片的索引
5.5 物相定性分析方法
5.6 物相定量分析
习题
第6章 宏观应力测定
6.1 引言
6.2 单轴应力测定原理
6.3 平面应力测定原理
6.4 试验方法
6.5 试验精度的保证及测试原理的适用条件
习题
第7章 晶体的极射赤面投影
7.1 球面投影
7.2 极射赤面投影和吴里夫网
7.3 极射赤面投影的性质及其应用
7.4 晶带的极射赤面投影
7.5 标准投影图
习题
第8章 多晶体织构分析
8.1 冷拉金属丝织构的测定
8.2 丝织构的极图和反极图
8.3 板织构极图晶体投影原理及其织构测定
8.4 冷轧板织构的测定
8.5 极图的分析与标定
习题
第9章 电子光学基础
9.1 电子波与电磁透镜
9.2 电磁透镜的像差与分辨率
9.3 电磁透镜的景深和焦长
习题
第10章 透射电子显微镜
10.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
10.2 主要部件的结构与工作原理
10.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
习题
第11章 复型技术
11.1 概述
11.2 质厚衬度原理
11.3 一级复型和二级复型
11.4 萃取复型与粉末样品
习题
第12章 电子衍射
12.1 概述
12.2 电子衍射原理
12.3 电子显微镜中的电子衍射
12.4 单晶体电子衍射花样标定
12.5 复杂电子衍射花样
习题
第13章 晶体薄膜衍衬成像分析
13.1 概述
13.2 薄膜样品的制备
13.3 衍衬成像原理
13.4 消光距离
13.5 衍衬运动学简介
13.6 晶体缺陷分析
习题
第14章 扫描电子显微镜
14.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
14.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
14.3 扫描电子显微镜的主要性能
14.4 表面形貌衬度原理及其应用
14.5 原子序数衬度原理及其应用
14.6 背散射电子衍射分析及其应用
习题
第15章 电子探针显微分析
15.1 电子探针仪的结构与工作原理
15.2 电子探针仪的分析方法及应用
习题
第16章 其他显微分析方法简介
16.1 离子探针
16.2 低能电子衍射
16.3 俄歇电子能谱仪
16.4 场离子显微镜
16.5 扫描隧道显微镜（STM）与原子力显微镜(AFM）
16.6 X射线光电子能谱仪
习题
实验指导
实验一 X射线晶体分析仪介绍及单相立方晶系物质粉末相计算
实验二 利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
实验三 透射电子显微镜的结构、样品制备及观察
实验四 扫描电子显微镜、电子探针仪结构与样品分析
附录
主要参考文献