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公差与测量技术

公差与测量技术

定　价：¥7.40

作　者：	王玉荣，张应昌主编
出版社：	陕西科学技术出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

ISBN：	9787536907973	出版时间：	1990-01-01	包装：
开本：	26cm	页数：	323页	字数：

内容简介

　　本书包括互换性和标准化概论、圆柱公差与配合、形状和位置公差、表面粗糙度等内容。

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