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微电子器件可靠性

微电子器件可靠性

定　价：¥13.00

作　者：	史保华等编著
出版社：	西安电子科技大学出版社
丛编项：
标　签：	微电子技术

ISBN：	9787560607191	出版时间：	1999-01-01	包装：
开本：	26cm	页数：	182页	字数：

内容简介

暂缺《微电子器件可靠性》简介

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