第1章 电子衍射原理及其分析方法
1.1 电子衍射原理
1.2 单晶电子衍射谱的标定
1.3 高阶劳动厄区衍射的标定
1.4 透射电子显微镜样品制备技术
1.5 晶体取向关系测定
1.6 立方晶系孪晶电子衍射分析
1.7 层错的衍衬分析
1.8 界面的衍的衍分析
1.9 位错的衍衬分析
习题
参考文献
第2章 材料表面分析技术
2.1 表面分析方法的物理基础
2.2 俄歇电子能谱仪
2.3 X射线光电子能谱仪
2.4 AES和XPS在材料科学研究中心的应用
习题
参考文献
第3章 材料热分析方法
3.1 差热分析与差示扫描量热法
3.2 热重法
3.3 热机械法
3.4 影响热分析测量的实验因素
习题
参考文献
附录
附录1 常用晶体学公式
附录2 立方晶体晶面（或晶向）夹角表
附录3 电子衍射花样标定时用的数据表
附录4 立方晶系
附录5 化学减薄液成分
附录6 电解抛光液的成分
附录7 供制备萃取复型用的金属试样的电解抛光和腐蚀规范
附录8 MgX射线元素谱线位置
附录9 Alx射线素谱线的位置
附录10 元素的电负性
附录11 元素的分析意义俄歇线
附录12 电子结合能标识素表（以MgKa）为激发源
附录13 电子结合能示识元素表（以ALKa）为激发源
附录14 顺磁态与逆磁态离子
附录15 原子灵敏度因子（ASF）
附录16 钢与合金中常见的相晶体数学据
附录17 不同c/a下，四方晶系边长（r1/r2）和夹角（p）表（部分）
附录18 不同c/a下，六方晶系边长（r1/r2）和夹角（p）表（部分）
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