本书在作者多年从事介质谐振器及其测试方法研究的基础上编著而成。全书共4章，主要内容包括介质谐振器、高介微波陶瓷及其基本应用，截止开腔中的介质谐振测量技术，截止闭腔中的介质谐振测量技术，耳语坑道模介质谐振测量技术，腔外微扰测量原理与技术，微波频率低端的谐振测量技术，微波下三次交叉调制失真率的测量等。本书所介绍的利用介质自身谐振的测量技术和介质自身无须谐振的测量技术，是新型电子元器件、通信部件、非金属材料诸领域的研究、开发、应用中必不可少的重要手段和技术。 本书可供从事电子-材料领域、通信-信息领域和电介质物理研究的科研、教学、开发、应用、测试和计量等工作的科技人员及大专院校有关师生参考。 前言 本书主要反映我们从事介质谐振器方面的研究及所取得的成果，并对相关文献报道的研究成果进行了总结。其涉及材料、应用和测试三个方面。由于涉及的面广、内容丰富，且材料、应用方面都有不少论文、专著，故本书只着重叙述测试方法与技术方面。为了使读者对介质谐振器有一个较全面的了解，书中也极其扼要地介绍了什么是介质谐振器，以及当今常用的高介微波陶瓷、介质谐振器的组合和基本应用等。本书所介绍的测试方法主要是针对中、低损耗的高介微波材料，也称介质谐振器材料。由于被测的介质样品通常就是一个谐振子，所以它又称介质谐振器。书中将文献报道的绝大部分测量方法归结为截止空腔中的介质自身谐振测量技术，而将我们创立的介质自身无须谐振的方法称腔外微扰测量技术。腔外微扰法目前已达到能用同一样品、同一腔体在8．2～40GHz的离散频率下获得介电谱。此外，由于介质本身没有谐振，故腔外微扰法也同时适合于测量较大损耗甚至大损耗的介质。这个测试系统已开始应用。最后，书中还介绍了一些经改进后可沿用的还能方便地施加直流偏压的方法。因此，可以说本书是对《材料科学中的介电谱技术》（科学出版社，1999）一书中有关频域测量技术的补充和发展。 众所周知，信息功能陶瓷的微波响应能作为阐明材料的微结构、缺陷等与宏观性能关系的重要依据，也为新型电子元器件、通信部件等方面提供设计参数。由于新材料的相继问世和现有材料的不断改进、电子-信息系统的飞速发展，研究和创新材料微波性能评价技术与系统也在不断取得新的成果。作者期望，本书的问世将为电介质物理学、电子材料及通信-信息的基础研究再提供一些人们便于采用的手段和技术，也为材料电磁学参数测试方法的进一步研究提供一些思路，以期共同促进实现微小型、轻便、稳定、安全可靠的微波系统及其模块化、多功能化，以帮助和带动微波集成向大面积发展，最终走上全面集成化。 在本书撰写过程中曾得到浙江大学、解放军总装备部、惠州市、惠州学院和桂林电子工业学院等有关部门的研究经费资助，以及有关领导的全力支持和同事的大力合作；得到浙江大学的朱永花副教授、王艳华老师，杭州中国计量学院的徐江峰副教授，惠州学院的方振逵副教授、刘晓莉老师、凌家良老师、罗萍老师，以及桂林电子工业学院敖发良教授、李思敏教授、姜兴副教授的帮助和支持。在此，对上述部门、单位、领导、同事和朋友致以衷心感谢！ 倪尔瑚 2005年10月
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