电子系统小子样试验理论方法

第1章 概率及概率分布
1.1 基本概念
1.2 随机变量及概率分布
1.3 数理统计基础
第2章 电子系统试验中传统的数据处理方法
2.1 参数估计
2.2 假设检验
2.3 试验中子样大小的确定
2.4 经典统计方法的缺陷及误用
2.5 传统方法的评价
第3章 Bayes方法基本原理
3.1 纺计推断中所应用的信息
3.2 Bayes方法的产生及其基本观点
3.3 验前分布的计算方法
3.4 验后分布的计算方法
3.5 共轭分布
3.6 Bayes方法的典型应用
3.7 Bayes方法的评价
第4章 Bayes统计推断
4.1 Bayes统计推断的基本理论
4.2 正态总体未知参数的Bayes估计
4.3 正态总体未知未知参数的Bayes估计
4.4 正态总体未知参数u、Bayes估计
4.5 二项分布总体未知参数P的Bayes估计
第5章 序贯验后加权检验与小子样试验方法
5.1 序贯验后加权检验方法
5.2 正态总体分布均值的验后加权检验
5.3 正态总体分布方差的验后加权检验
5.4 正态总体分布联合分布的验后加权检验
5.5 二项分布总布未知参数P的验后加权检验
第6章 电子系统小子样试验方法应用及分析
6.1 替代等效推算模型
6.2 正态总体中均值的统计检验及分析
6.3 正态总体中方差的统计检验及分析
6.4 正态总体中均值和方差的联合统计检验及分析
6.5 二次总体中P参数的统计检验及分析
后记
附表
参考文献