电子系统测试原理

定　价：¥39.00

作　者：	（美）莫瑞达、等
出版社：	机械工业
丛编项：	电子与电气工程丛书
标　签：	电子技术

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ISBN：	9787111198086	出版时间：	2007-01-01	包装：	平装
开本：	16开	页数：	296	字数：

内容简介

　　本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第H部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第111部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第1V部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第V部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC测试。.本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。随着电子技术的不断发展，电子系统测试面临越来越大的挑战：研究更精确的故障模型，在高层设计上检查易测试性，在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识，来面对这些挑战。..本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识，讲解设计验证的主要手段，有助于测试的设计检查；研究了如何将测试应用于随机逻辑。存储器，FPGA和微处理器。最后，提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理，并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括：●解释了测试在设计中的作用。●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。●针对FPGA的测试方法。●芯片系统的测试。...

作者简介

　　本书提供作译者介绍Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。...

图书目录

第1部分设计与测试
第1章测试综述
1. 1 可靠性与测试
1. 2 设计过程
1. 3 验证
1. 4 测试
1. 5 故障及其检测
1. 6 测试码生成
1. 7 故障覆盖率
1. 8 测试类型
1. 9 测试应用
1. 10 易测试性设计
1. 11 测试经济
1. 12 进一步研究
参考文献
习题
第2章缺陷. 失效和故障
2. 1 简介
2. 2 物理缺陷
2. 3 故障模式
2. 4 故障
2. 5 固定型故障
2. 6 故障列表
2. 7 桥接故障
2. 8 短路和开路故障
2. 9 时延故障
2. 10 暂时失效
2. 11 噪声失效
参考文献
习题
第3章设计表示
3. 1 抽象级
3. 2 数学方程
3. 3 列表格式
3. 4 图形表示
3. 5 图
3. 6 二叉判断图
3. 7 网表
3. 8 硬件描述语言
参考文献
习题
第4章 VLSI设计流程
4. 1 简介
4. 2 CAD工具
4. 3 算法
4. 4 综合
4. 5 设计方法
4. 6 半定制设计
4. 7 物理设计
参考文献
习题
第11部分测试流程
第5章测试中模拟的角色
5. 1 简介
5. 2 大型设计的模拟
5. 3 逻辑模拟
5. 4 模拟方法
5. 5 时间模型
5. 6 故障模拟
5. 7 故障模拟结果
参考文献
习题
第6章自动测试码生成
6. 1 简介
6. 2 术语和符号
6. 3 D算法
6. 4 临界路径
6. 5 回溯和扇出重汇聚
6. 6 PODEM
6. 7 其他算法
6. 8 时序电路测试
参考文献
习题
第7章电流测试
7. 1 简介
7. 2 基本概念
7. 3 无故障电流
7. 4 电流感应技术
7. 5 故障检测
7. 6 测试码生成
7. 7 深亚微级技术的影响
参考文献
习题
第III部分易测试性设计..
第8章专用技术
8. 1 简介
8. 2 DFT的内容
8. 3 易测试性分析
8. 4 初始化及测试点
8. 5 易测试性划分
8. 6 易测试的电路
参考文献
习题
第9章路径扫描设计
9. 1 简介
9. 2 路径扫描设计
9. 3 测试码产生
9. 4 测试码应用
9. 5 路径扫描设计的例子
9. 6 存储设备
9. 7 扫描结构
9. 8 多级扫描链
9. 9 路径扫描设计的代价
9. 10 部分扫描测试
9. 11 调整扫描链上的触发器
参考文献
习题
第10章边界扫描测试
10. 1 简介
10. 2 传统电路板测试
10. 3 边界扫描体系结构
10. 4 测试访问端口
10. 5 寄存器
10. 6 TAP控制器
10. 7 操作模式
10. 8 边界扫描语言
10. 9 边界扫描设计的代价
10. 10 进一步研究
参考文献
习题
第11章内建自测试
11. 1 简介
11. 2 伪随机测试码生成
11. 3 响应压缩
11. 4 抗随机码故障
11. 5 BIST结构
参考文献
习题
第IV部分特殊结构
第12章存储器测试
12. 1 动机
12. 2 存储器模型
12. 3 缺陷和故障模型
12. 4 存储器测试类型
12. 5 功能测试方案
12. 6 存储器BIST
12. 7 存储器诊断与维修
参考文献
习题
第13章 FPGA与微处理器的测试
13. 1 简介
13. 2 FPGA
13. 3 FPGA的易测试性
13. 4 基于RAM的FPGA的测试
13. 5 微处理器
13. 6 微处理器的测试
13. 7 现代微处理器中的DFT特性
参考文献
习题
第V部分高级论题
第14章易测试性综合
14. 1 简介
14. 2 易测试性相关内容
14. 3 综合回顾
14. 4 高级综合
14. 5 测试综合方法
参考文献
习题
第15章 SOC测试
15. 1 简介
15. 2 核的分类
15. 3 设计与测试流程
15. 4 内核测试需求
15. 5 测试体系结构的概念
15. 6 测试策略
15. 7 进一步研究
参考文献
习题
附录A 参考书目
附录B 缩写词表