在不断发展的高技术环境中,工程产品设计师经常面临电磁干扰的问题,电磁干扰会影响产品的性能。本书为EMC符合兼容的测试方法和技术提供了一系列简单、有效的故障检测指南,用来阐明各个过程的特点。Mark I. Montrose和Edward M. Nakauchi在书中提出了一种简易的、解决EMC问题的方法,并对开发、解决符合兼容性问题所需要的诊断工具和测量步骤给出了建议。本书特点如下:●仅需要数学、电子学和EMC的基本知识;●检测方式简单且实用;●为工程师提供了必要的工具和技术来快速、有效地设计产品;●能够帮助技术人员尽量避免严重的错误;●包括一个完整的测试步骤方法的附录,其中详述了在当今产品上进行的多数EMC试验。
作者简介
MARK I.MONTROSE IEEE 的高级会员和IEEE EMC及产品安全工程协会的理事会成员,是一位管理兼容、电磁兼容性(EMC)和产品安全性领域专家,他在EMC理论和信号完整性的领域中进行了广泛的研究,撰写了大量相关主题的论文,并出版了两本与EMC和印刷电路板有关的书籍。