基础标准
GB／T 2900.66－2004 电工术语半导体器件和集成电路
GB／T 3430－1989半导体集成电路型号命名方法
GB／T 3431.2－1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB／T 4728.12－1996 电气简图用图形符号 第12部分：二进制逻辑元件
GB／T 7092－1993半导体集成电路外形尺寸
GB／T 9178－1988 集成电路术语
GB／T 12842－1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB／T 14113－1993半导体集成电路封装术语
GB／T 15138－1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB／T 20296－2006 集成电路记忆法与符号
测试方法标准
GB／T 4377－1996半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
GB／T 6798－1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
GB／T 14028－1992半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB／T 14029－1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB／T 14030－1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB／T 14031－1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB／T 14032－1992半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB／T 14114－1993 半导体集成电路电压／频率和频率／电压转换器测试方法的基本原理
GB／T 14115－1993 半导体集成电路采样／保持放大器测试方法的基本原理
GB／T 14862－1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB／T 16526－1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
GB／T 19248－2003封装引线电阻测试方法
GB／T 19403.1－2003半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）
鄂公网安备 42010302001612号 