能量色散X射线荧光光谱

前言
绪论 能量色散和波长色散x射线荧光谱的比较
0.1 概述
0.2 wdxrf和edxrf谱仪色散方法
0.3 用于wdxrf和edxrf比较的谱仪
0.4 wdxrf和edxrf谱仪本身引起的谱线干扰
0.5 检出限
0.6 分辨率
0.7 准确度和精密度
0.8 分析时间
0.9 edxrf和wdxrf谱仪比较小结
0.1 0edxrf和wdxrf谱仪合为一体的谱仪
参考文献
第一章 x射线荧光光谱物理学基础
1.1 x射线的本质和定义
1.2 x射线与物质的相互作用
1.3 莫塞莱（moseley）定律
1.4 荧光产额
1.5 谱线分数
参考文献
第二章 激发和激发源
2.1 x射线管
2.2 原级谱激发
2.3 二次靶激发
2.4 放射性核素激发源
2.5 同步辐射光源
2.6 质子激发
参考文献
第三章 探测器
3.1 概述
3.2 x射线探测器的主要技术指标
3.3 能量探测器组成
3.4 常用的探测器简介
参考文献
第四章 能量色散x射线荧光光谱仪结构
4.1 概述
4.2 通用型和手持式edxrf谱仪测量单元
4.3 微束edxrf谱仪测量单元
4.4 偏振edxrf谱仪测量单元
4.5 全反射edxrf谱仪测量单元
4.6 测量单元中激发系统
4.7 探测器
4.8 记录单元
参考文献
第五章 谱处理
5.1 引言
5.2 感兴趣区的设置和ka/kb强度比的应用
5.3 基准谱在谱处理中的应用
5.4 分析函数在谱处理中的应用
5.5 偏最小二乘法
参考文献
第六章 基体效应
6.1 引言
6.2 元素间吸收增强效应
6.3 物理化学效应
参考文献
第七章 元素间吸收增强效应的校正
7.1 引言
7.2 基本参数法
7.3 理论影响系数法
7.4 经验影响系数法
7.5 基本参数法和影响系数法的比较
参考文献
第八章 散射线在校正基体效应中的应用
8.1 引言
8.2 散射线校正吸收效应的基本原理
8.3 散射线在基体校正中的应用
参考文献
第九章 定性和半定量分析
9.1 概述
9.2 定性和半定量分析条件的设定
9.3 定性分析步骤
9.4 半定量分析的基本原理
9.5 rhk。康普顿散射线的定量分析实例
9.6 改善半定量分析结果准确度的方法
9.7 结论
参考文献
第十章 定量分析方法（1）——分析条件的设置
10.1 概述
10.2 取样和制样
10.3 分析条件的选择
参考文献
第十一章 定量分析方法（2）——校准曲线的制定
11.1 概述
11.2 校准曲线模式
11.3 净强度
11.4 校准曲线的制定
11.5 定量分析方法的评价
11.6 谱仪漂移校正
参考文献
第十二章 定量分析（3）——镀层和薄膜材料分析
12.1 概述
12.2 常规定量分析方法在单层样分析中的应用
12.3 基本参数法应用于多层镀膜分析
12.4 三维共聚焦xrf谱仪用多层膜厚度分析
参考文献
第十三章 xrf定量分析中不确定度评定
13.1 引言
13.2 名词术语
13.3 测量结果的分布
13.4 测量不确定度
13.5 测量不确定度的报告
13.6 计数统计误差和光子计数的不确定度
13.7 异常数据的剔除
参考文献
第十四章 xrf标准方法
14.1 概述
14.2 标准的分类
14.3 我国标准的编号
14.4 我国的xrf标准
14.5 xrf国际标准
14.6 标准物质
参考文献
第十五章 样品制备
15.1 概述
15.2 固体块样的制备
15.3 粉末和粉末压片的制备
15.4 玻璃熔片的制备
15.5 其他样品制备方法
参考文献
第十六章 地质样品分析
16.1 引言
16.2 edxrf谱仪在地质样品现场分析中的应用
16.3 edxrf谱仪在实验室分析中的应用
16.4 μ-edxrf谱仪在地质分析中的应用
参考文献
第十七章 电子电气产品中限用物质分析
17.1 概述
17.2 样品制备
17.3 rolls筛选的方法
参考文献
第十八章 文物分析
18.1 引言
18.2 edxrf谱仪在文物分析中的应用
18.3 edxrf谱仪应用于古陶瓷断源、断代的必要条件
18.4 小结
参考文献
第十九章 水泥原材料分析
19.1 引言
19.2 分析对象
19.3 基体效应
19.4 样品制备
19.5 测定条件
19.6 校准曲线的制定
19.7 精密度
19.8 准确度
参考文献
附录