软件学院综合实验教程：计算机硬件综合实验

第一篇 模拟与数字电路实验
第一部分 实验环境介绍
第1章thdm-1型数电模电实验箱
1.1 thdm-1型实验箱简介
1.2 thdm-1型实验箱的组成和使用
1.2.1 电源部分
1.2.2 实验箱系统功能部分
第2章ds5042me型双踪示波器
2.1 主要性能特点
2.2 技术规格
2.3 操作面板上的主要功能
2.4 示波器的显示界面
2.5 设备仪器的其他附件
第3章ms8221型数字万用表
3.1 功能描述
3.2 测量范围及量程选择
3.3 使用步骤及注意事项
第4章dg1022型函数信号发生器
4.1 性能特点
.4.2 前操作面板
4.3 后操作面板
第二部分 模拟电路实验
实验1 常用电子仪器的使用
1.1 实验目的
1.2 实验设备、器件与相关知识
1.2.1 实验设备和器件
1.2.2 正弦波信号简介
1.2.3 实验原理及预习
1.3 实验内容和步骤
1.3.1 数字万用表的使用
1.3.2 数字示波器的使用
1.3.3 函数信号发生器的使用
1.4 实验要求与实验报告
实验2 常用半导体器件的识别与使用
2.1 实验目的
2.2 实验设备、器件与相关知识
2.2.1 实验设备和器件
2.2.2 半导体二极管
2.2.3 半导体晶体管
2.2.4 实验原理及预习
2.3 实验内容和步骤
2.4 实验要求与实验报告
实验3 晶体管共射极单管放大器
3.1 实验目的
3.2 实验设备、器件与相关知识
3.2.1 实验设备和器件
3.2.2 实验原理及预习
3.2.3 静态工作点的分析、测量与调试
3.2.4 电压放大倍数分析与测量
3.2.5 放大电路q点与饱和、截止失真的关系
3.2.6 实验预习
3.3 实验内容和步骤
3.3.1 静态工作点的调试
3.3.2 电压放大倍数的测量
3.3.3 静态工作点对输出波形失真的影响
3.4 实验要求与实验报告
实验4 集成运算放大器的线性应用
4.1 实验目的
4.2 实验设备、器件与相关知识
4.2.1 实验设备和器件
4.2.2 电阻器的识别与使用
4.2.3 电容器的识别与使用
4.2.4 集成运算放大器工作原理
4.2.5 基本运算电路
4.2.6 实验预习
4.3 实验内容和步骤
4.4 实验要求与实验报告
实验5 滤波电路和集成稳压器
5.1 实验目的
5.2 实验设备、器件和相关知识
5.2.1 实验设备和器件
5.2.2 直流稳压电路
5.2.3 全波整流电路
5.2.4 电容滤波电路
5.2.5 集成稳压器
5.3 实验内容和步骤
5.4 实验要求与实验报告
第三部分 数字电路实验
实验1 数字电路基本逻辑门的功能验证
1.1 实验目的
1.2 实验设备、器件与相关知识
1.2.1 实验设备和器件
1.2.2 脉冲信号及其主要参数
1.2.3 ttl集成电路特点及使用规则
1.2.4 cmos集成电路特点及使用规则
1.2.5 逻辑门的图形符号
1.2.6 集电极开路门oc
1.2.7 三态门
1.2.8 集成逻辑电路的连接和驱动简介
1.3 实验内容和步骤
1.4 实验要求与实验报告
实验2 组合逻辑电路的设计和测试
2.1 实验目的
2.2 实验设备、器件和相关知识
2.2.1 实验设备和器件
2.2.2 组合逻辑电路设计
2.2.3 组合逻辑电路设计举例
2.3 实验内容和步骤
2.4 实验要求与实验报告
实验3 译码器及其应用
3.1 实验目的
3.2 实验设备、器件与相关知识
3.2.1 实验设备和器件
3.2.2 译码器
3.3 实验内容和步骤
3.4 实验要求与实验报告
实验4 数据选择器及其应用
4.1 实验目的
4.2 实验设备、器件与相关知识
4.2.1 实验设备和器件
4.2.2 实验原理
4.3 实验内容和步骤
4.4 实验要求与实验报告
实验5 触发器
5.1 实验目的
5.2 实验设备、器件与相关知识
5.2.1 实验设备和器件
5.2.2 实验原理
5.3 实验内容和步骤
5.4 实验要求与实验报告
实验6 计数器
6.1 实验目的
6.2 实验设备、器件与相关知识
6.2.1 实验设备和器件
6.2.2 实验原理
6.3 实验内容和步骤
6.4 实验要求与实验报告
实验7 八路彩灯控制器
7.1 实验目的
7.2 实验设备、器件与相关知识
7.2.1 实验设备和器件
7.2.2 实验原理
7.3 实验内容和步骤
7.4 实验要求与实验报告
第二篇 计算机组成与结构实验
第一部分 实验环境介绍
第1章tec-xp计算机组成原理与系统结构实验系统
1.1 tec-xp计算机组成原理与系统结构实验箱简介
1.1.1 tec-xp实验箱面板功能介绍
1.1.2 tec-xp实验箱内部结构组成和实现功能
1.1.3 软件模拟实现的教学计算机系统
1.2 tec-xp实验箱的技术指标
1.3 tec-xp实验系统支持的实验项目
1.3.1 基本实验项目
1.3.2 扩展及综合性实验项目
第2章tec-xp实验系统的硬件系统和软件系统
2.1 tec-xp实验系统硬件系统的结构设计
2.1.1 实验系统的硬件组成原理
2.1.2 硬件系统的具体实现
2.2 软件系统的结构设计
2.2.1 tec-xp系统的监控程序
2.2.2 tec-xp系统的pc终端程序
2.2.3 tec-xp实验系统的软件模拟系统
第二部分基础性实验
实验1监控程序与汇编语言程序设计实验
1.1 实验目的
1.2 实验设备与相关知识
1.2.1 实验设备
1.2.2 指令格式
1.2.3 tec-xp实验系统指令分类
1.3 实验内容和步骤
1.3.1 实验箱tec-xp通电启动步骤
1.3.2 运行pc联机程序pcec16.com的操作步骤
1.3.3 实验内容
1.3.4 实验要求与实验报告
实验2运算器部件实验
2.1 实验目的
2.2 实验设备与相关知识
2.2.1 实验设备
2.2.2 运算器芯片am2901的结构和功能
2.2.3 基于am2901运算器的设计与实现
2.2.4 am2901的逻辑功能
2.3 实验内容和步骤
2.3.1 实验说明
2.3.2 实验操作步骤和内容
2.3.3 实验运行环境
2.3.4 实验要求与实验报告
实验3存储器扩展实验
3.1 实验目的
3.2 实验设备与相关知识
3.2.1 实验设备
3.2.2 tec-xp存储系统的介绍
3.3 实验内容和步骤
3.3.1 实验说明
3.3.2 实验操作步骤和内容
3.3.3 实验运行环境
3.3.4 实验要求与实验报告
实验4中断实验
4.1 实验目的
4.2 实验设备与相关知识
4.2.1 实验设备
4.2.2 tec-xp系统中断线路
4.2.3 中断处理在教学计算机中的具体实现
4.3 实验内容和步骤
4.3.1 实验说明
4.3.2 实验操作步骤和内容
4.3.3 实验运行环境
4.3.4 实验要求与实验报告
实验5i/o口扩展实验
5.1 实验目的
5.2 实验设备与相关知识
5.2.1 实验设备
5.2.2 tec-xp串行接口
5.3 实验内容和步骤
5.3.1 实验说明
5.3.2 实验操作步骤和内容
5.3.3 实验准备
5.3.4 实验要求与实验报告
第三部分综合设计性实验
实验6fpga程序设计实验
6.1 实验目的
6.2 实验设备与相关知识
6.2.1 实验设备
6.2.2 vhdl语言概述与程序设计
6.2.3 vhdl语言程序设计
6.3 实验内容和步骤
6.3.1 实验说明
6.3.2 实验操作步骤和内容
6.3.3 实验准备
6.3.4 实验要求与实验报告
实验7用fpga设计实现模型计算机
7.1 实验目的
7.2 实验设备与相关知识
7.2.1 实验设备
7.2.2 fpga芯片的外特性和内部结构
7.2.3 cpu系统设计目标与实现
7.2.4 在fpga芯片中实现的非流水线的cpu系统
7.2.5 cpu系统的层次与模块设计
7.3 实验内容和步骤
7.3.1 实验说明
7.3.2 实验操作步骤和内容
7.3.3 实验要求与实验报告
参考文献