元器件和半导体领域专利审查案例评析

序言
第一章 检索
第一节 全面检索
1.1.1 对有检索报告的PCT申请的充分检索
1.1.2 补充检索的时机把握
第二节 检索技巧
1.2.1 复杂数值范围的检索
1.2.2 具有形貌特征的权利要求的检索
1.2.3 检索过程中关键词的扩展
1.2.3.1 效果性限定
1.2.3.2 功能性限定
第二章 实体审查
第一节 把握立法宗旨，正确适用法律条款
第二节 理解发明实质，准确判断申请
2.2.1 新颖性审查
2.2.2 创造性审查
2.2.2.1 创造性评述时“三步法”的使用
2.2.2.2 通过合乎逻辑的分析、推理或有限试验得出数值限定的判断
2.2.2.3 公知常识在创造性判断中的应用
2.2.3 针对申请人意见陈述的审查
2.2.3.1 准确判断申请人意见的合理性
2.2.3.2 适当的评述方式提高沟通效率
第三节 合理使用证据，提升通知书说服力
2.3.1 对比文件证据的使用
2.3.1.1 权利要求中的并列技术方案分别采用不同的对比文件评述
2.3.1.2 独立权利要求与从属权利要求分别采用不同的对比文件评述
2.3.1.3 两组从属权利要求分别采用不同的对比文件评述
2.3.2 公知常识证据的使用
2.3.2.1 首次审查意见提供公知常识证据
2.3.2.2 后续审查中提供公知常识证据
2.3.2.3 公知常识认定存在异议时的替代证据
第三章 其他
第一节 缺乏必要技术特征
第二节 优先权核实
第三节 公开不充分
3.3.1 半导体制造方法公开不充分
3.3.2 显示器装置公开不充分