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破坏性创新技术事前产生原理

破坏性创新技术事前产生原理

定 价:¥98.00

作 者: 檀润华,孙建广 著
出版社: 科学出版社
丛编项:
标 签: 工业技术 工业技术理论

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ISBN: 9787030405951 出版时间: 2014-05-01 包装: 平装
开本: 16开 页数: 264 字数:  

内容简介

  《破坏性创新技术事前产生原理》重点研究面向实际工程设计的破坏性创新事前实现方法,运用TRIZ原理,研究技术冲突、技术进化等TRIZ理论对破坏性创新的支持,探讨破坏性创新的技术实现方法,最终形成复杂的破坏性创新技术实现过程模型。在深刻了解破坏性创新管理学范畴定义的前提下,结合技术进化S曲线,研究其与进化曲线的关系,建立了表示完整产品进化过程的3维S曲线。探讨了TRIZ理论在破坏性创新中的应用。根据TRIZ技术进化理论、冲突理论和理想解,分析了以TRIZ理论解决破坏性创新问题的方法,运用TRIZ技术进化理论,通过对技术进化路线的搜索,实现对潜在技术的预测,使得破坏性创新的最终技术实现成为可能。

作者简介

暂缺《破坏性创新技术事前产生原理》作者简介

图书目录

1  绪论

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