Lattice可编程器件测试技术

定　价：¥30.00

作　者：	吴丹，石坚，周红著
出版社：	西北工业大学出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787561242537	出版时间：	2015-01-01	包装：	平装
开本：	16开	页数：		字数：

内容简介

《Lattice可编程器件测试技术》从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法、保证测试向量和测试程序开发效率和质量的可编程器件测试技术规范、研究绪论及结果分析等。
　　《Lattice可编程器件测试技术》可供相关工程技术人员、科研人员参考，也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书。