测试信号分析与信息处理

定　价：¥98.00

作　者：	杨平，沈艳，陈中柘
出版社：	科学出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787030497413	出版时间：	2016-09-01	包装：
开本：	32开	页数：	344	字数：

内容简介

　　本书共8章，约40万字，主要内容包括：信号的数学特征；信号的数学分析；信号的离散化处理与分析；测试系统的组成与分析；信号调理电路；信号转换电路；频谱估计；现代信号分析方法现代信号分析方法。在内容上注重加强测试系统的分析与建模，信号分析与信息处理的算法及硬件实现，突出测试信号分析的特殊性和针对性，加重测试信号处理的篇幅；在风格上注重图文并茂，即公式演绎与图形解析相结合，加强对理论和方法的物理内涵诠释；在取材上注重经典与新颖相结合，力求反映*新的理论和应用成果。