第1章 万用表的功能特点和使用方法（P1）
1．1 万用表的功能特点（P1）
1．1．1 指针万用表的功能特点（P1）
1．1．2 数字万用表的功能特点（P6）
1．2 万用表的使用方法（P11）
1．2．1 指针万用表的使用方法（P11）
1．2．2 数字万用表的使用方法（P13）
第2章 电阻器的种类、特点与检测代换方法（P19）
2．1 电阻器的功能特点与参数识别（P19）
2．1．1 电阻器的功能特点（P19）
2．1．2 电阻器的参数识别（P21）
2．2 常见的电阻器（P26）
2．2．1 普通电阻器（P26）
2．2．2 敏感电阻器（P29）
2．2．3 可调电阻器（P34）
2．3 电阻器的检测与代换（P36）
2．3．1 普通色环电阻器的检测方法（P36）
2．3．2 光敏电阻器的检测方法（P38）
2．3．3 热敏电阻器的检测方法（P40）
2．3．4 湿敏电阻器的检测方法（P41）
2．3．5 气敏电阻器的检测方法（P43）
2．3．6 压敏电阻器的检测方法（P45）
2．3．7 可调电阻器的检测方法（P46）
2．3．8 电阻器的代换方法（P48）
第3章 电容器的种类、特点与检测代换方法（P52）
3．1 电容器的功能特点与参数识别（P52）
3．1．1 电容器的功能特点（P52）
3．1．2 电容器的参数识别（P54）
3．2 常见的电容器（P59）
3．2．1 普通电容器（P59）
3．2．2 电解电容器（P62）
3．2．3 可变电容器（P64）
3．3 电容器的检测与代换（P67）
3．3．1 普通电容器的检测方法（P67）
3．3．2 电解电容器的检测方法（P68）
3．3．3 电容器的代换方法（P72）
第4章 电感器的种类、特点与检测代换方法（P74）
4．1 电感器的功能特点与参数识别（P74）
4．1．1 电感器的功能特点（P74）
4．1．2 电感器的参数识别（P77）
4．2 常见的电感器（P82）
4．2．1 色环电感器（P82）
4．2．2 色码电感器（P82）
4．2．3 电感线圈（P83）
4．2．4 贴片电感器（P85）
4．2．5 微调电感器（P85）
4．3 电感器的检测与代换（P86）
4．3．1 色环电感器的检测方法（P86）
4．3．2 色码电感器的检测方法（P87）
4．3．3 电感线圈的检测方法（P88）
4．3．4 贴片电感器的检测方法（P90）
4．3．5 电感器的代换方法（P90）
第5章 二极管的种类、特点与检测代换方法（P92）
5．1 二极管的功能特点与参数识别（P92）
5．1．1 二极管的功能特点（P92）
5．1．2 二极管的参数识别（P94）
5．2 常见的二极管（P97）
5．2．1 整流二极管（P97）
5．2．2 稳压二极管（P99）
5．2．3 发光二极管（P100）
5．2．4 光敏二极管（P101）
5．2．5 检波二极管（P102）
5．2．6 变容二极管（P103）
5．2．7 双向触发二极管（P104）
5．2．8 开关二极管（P105）
5．2．9 快恢复二极管（P105）
5．3 二极管的检测与代换（P106）
5．3．1 二极管引脚极性的检测判别方法（P106）
5．3．2 二极管制作材料的检测判别方法（P107）
5．3．3 整流二极管的检测方法（P107）
5．3．4 稳压二极管的检测方法（P108）
5．3．5 发光二极管的检测方法（P109）
5．3．6 光敏二极管的检测方法（P111）
5．3．7 检波二极管的检测方法（P112）
5．3．8 双向触发二极管的检测方法（P112）
5．3．9 二极管的代换方法（P115）
第6章 三极管的种类、特点与检测代换方法（P122）
6．1 三极管的功能特点与参数识别（P122）
6．1．1 三极管的功能特点（P122）
6．1．2 三极管的参数识别（P127）
6．2 常见的三极管（P131）
6．2．1 小功率、中功率和大功率三极管（P131）
6．2．2 低频三极管和高频三极管（P131）
6．2．3 塑料封装三极管和金属封装三极管（P132）
6．2．4 锗三极管和硅三极管（P133）
6．2．5 其他类型的三极管（P133）
6．3 三极管的检测与代换（P134）
6．3．1 NPN型三极管引脚极性的检测判别方法（P134）
6．3．2 PNP型三极管引脚极性的检测判别方法（P137）
6．3．3 NPN型三极管好坏的检测方法（P140）
6．3．4 PNP型三极管好坏的检测方法（P141）
6．3．5 三极管放大倍数的检测方法（P142）
6．3．6 三极管特性参数的检测方法（P145）
6．3．7 三极管交流小信号放大器波形的检测方法（P147）
6．3．8 交流小信号放大器三极管的检测方法（P148）
6．3．9 三极管直流电压放大器的检测方法（P150）
6．3．10 驱动三极管的检测方法（P151）
6．3．11 三极管光控照明电路的检测方法（P152）
6．3．12 光敏三极管的检测方法（P153）
6．3．13 三极管的代换方法（P155）
第7章 晶闸管的种类、特点与检测代换方法（P158）
7．1 晶闸管的功能特点与参数识别（P158）
7．1．1 晶闸管的功能特点（P158）
7．1．2 晶闸管的参数识别（P160）
7．2 常见的晶闸管（P163）
7．2．1 单向晶闸管（P163）
7．2．2 双向晶闸管（P165）
7．2．3 单结晶闸管（P166）
7．2．4 可关断晶闸管（P166）
7．2．5 快速晶闸管（P167）
7．2．6 螺栓型晶闸管（P167）
7．3 晶闸管的检测与代换（P168）
7．3．1 单向晶闸管引脚极性的检测判别方法（P168）
7．3．2 单向晶闸管触发能力的检测方法（P169）
7．3．3 双向晶闸管触发能力的检测方法（P171）
7．3．4 双向晶闸管正、反向导通特性的检测方法（P174）
7．3．5 晶闸管的代换方法（P175）
第8章 场效应晶体管的种类、特点与检测代换方法（P177）
8．1 场效应晶体管的功能特点与参数识别（P177）
8．1．1 场效应晶体管的功能特点（P177）
8．1．2 场效应晶体管的参数识别（P178）
8．2 常见的场效应晶体管（P182）
8．2．1 结型场效应晶体管(JFET)（P182）
8．2．2 绝缘栅型场效应晶体管(MOSFET)（P184）
8．3 场效应晶体管的检测与代换（P187）
8．3．1 搭建电路测试场效应晶体管的驱动放大特性（P187）
8．3．2 搭建电路测试场效应晶体管的工作状态（P188）
8．3．3 结型场效应晶体管放大能力的检测方法（P190）
8．3．4 绝缘栅型场效应晶体管放大能力的检测方法（P191）
8．3．5 场效应晶体管的代换方法（P192）
第9章 集成电路的种类、特点与检测代换方法（P197）
9．1 集成电路的功能特点与参数识别（P197）
9．1．1 集成电路的功能特点（P197）
9．1．2 集成电路的参数识别（P198）
9．2 常见的集成电路（P204）
9．2．1 金属壳封装（CAN）集成电路（P204）
9．2．2 单列直插式封装（SIP）集成电路（P204）
9．2．3 双列直插式封装（DIP）集成电路（P205）
9．2．4 扁平封装（PFP、QPF）集成电路（P205）
9．2．5 插针网格阵列封装（PGA）集成电路（P205）
9．2．6 球栅阵列封装（BGA）集成电路（P206）
9．2．7 无引线塑料封装（PLCC）集成电路（P206）
9．2．8 芯片缩放式封装（CSP）集成电路（P207）
9．2．9 多芯片模块封装（MCM）集成电路（P207）
9．3 集成电路的检测与代换（P208）
9．3．1 三端稳压器的检测方法（P208）
9．3．2 运算放大器的检测方法（P212）
9．3．3 音频功率放大器的检测方法（P217）
9．3．4 微处理器的检测方法（P221）
9．3．5 集成电路的代换方法（P227）
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