《回转体的结构光测量原理》结合高速发展的新型传感器技术、数控技术和计算机图像处理技术等，针对国防工业领域特种回转体零件的快速、现场、精密测量需求，提出了基于结构光的回转体几何参数测量技术，讲述了基于点、线、面等不同形式结构光的测量原理、方法、实现途径等。结构光（structured Light）是已知空间方向的投影光线的集合，照射在被测物体上，可投影出不同形状的几何图形，利用数字摄像机将该几何图形信息采集到计算机中，采用不同算法对几何图形的特征进行提取识别，从而得到被测对象的几何廓形。这是一种非接触测量方法，优点是速度快，精度高，抗干扰能力强，对测量环境没有特殊要求，非常适合现场使用，是实现特种回转体现场、快速、高精度几何量测量的有效方法，有广泛的应用前景。《回转体的结构光测量原理》是作者对多年来利用结构光开展回转体零件几何量测量研究工作的总结和提炼，也是作者多年来带领科研团队和指导研究生进行大量理论研究和工程实践的科研成果。书中主要内容来自于研究团队已发表的学术论文、会议论文、博士研究生和硕士研究生的毕业论文、科研项目研究报告和工作总结．以及本领域相关的重要学术论文和专著，有些内容在本书中是首次公开。
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