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纳米力学测试新方法:扫描探针声学显微术

纳米力学测试新方法:扫描探针声学显微术

定 价:¥78.00

作 者: 李法新,周锡龙,付际
出版社: 科学出版社
丛编项:
标 签: 声学 物理学 自然科学

ISBN: 9787030515766 出版时间: 2017-03-01 包装: 平装
开本: B5 页数: 字数:  

内容简介

  本书从AFAM的力学基础-接触力学出发,阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像,以及AFAM的广泛应用。此外,还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。本书的内容安排如下:*章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法,以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍,随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论,定量化原理及两种基本成像模式。第五章给出了AFAM在测试和成像过程中涉及到的准确度和灵敏度问题,是对AFAM的深入研究。第六章介绍基于AFAM的材料粘弹性力学性能测试方法的原理及应用。第七章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用,主要涉及复合材料、智能材料和生物材料的微结构和微区弹性性质。第八章将介绍目前正在兴起的另一种纳米测试技术-多频原子力显微成像技术。

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