晶圆表面与工艺微粒与缺陷的监控方法
复审请求审查决定（第14034号）
分子功能网络的生成方法
复审请求审查决定（第14035号）
形成可靠铜互连器的方法
复审请求审查决定（第14038号）
时隙模式译码器状态的量度初始化
复审请求审查决定（第14080号）
半导体存储器装置及该装置的数据读取方法
复审请求审查决定（第14105号）
燃料电池的活化方法
复审请求审查决定（第14107号）
汉字体系笔画传代系统检索法
复审请求审查决定（第14119号）
搜索设备和搜索方法
复审请求审查决定（第14160号）
电容器及其制造方法
复审请求审查决定（第14161号）
泛用电子申请与批准方法
复审请求审查决定（第14162号）
量子点形成方法
复审请求审查决定（第14164号）
包含背面研磨的半导体晶片加工方法
复审请求审查决定（第14165号）
多语种输入方法和系统
复审请求审查决定（第14168号）
等离子体蚀刻方法
复审请求审查决定（第14175号）
组合物及膜的制造方法以及功能元件及其制造方法
复审请求审查决定（第14176号）
北京市第一中级人民法院行政判决书（2008）一中行初字第659号
电子设备和蓄电池单元
复审请求审查决定（第14177号）
线材固定方法及装置
复审请求审查决定（第14179号）
北京市第一中级人民法院行政判决书（2009）一中行初字第703号
磁控管
复审请求审查决定（第14183号）
电子装置
复审请求审查决定（第14186号）
操作面板和采用操作面板的图像形成装置或电子设备
复审请求审查决定（第14227号）
多转发器密封装置
复审请求审查决定（第14229号）
半导体光检测装置
复审请求审查决定（第14231号）
具有不同金属硅化物部分的半导体器件的制造方法
复审请求审查决定（第14290号）
基于程序代数的硬件编译器设计方法
复审请求审查决定（第14292号）
使用一次可程式化元件达到多次程式化的装置与方法
复审请求审查决定（第14293号）
自行对准接触窗开口的制造方法与内连线结构及其制造方法
复审请求审查决定（第14298号）
射频识别系统的应用
复审请求审查决定（第14299号）
用于补偿功率放大器的非线性失真的电路和方法
复审请求审查决定（第14300号）
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