模拟电子系统设计指南：从半导体、分立元件到TI集成电路的分析与实现（实践篇）

定　价：¥68.00

作　者：	何宾著
出版社：	电子工业出版社
丛编项：	电子系统EDA新技术丛书
标　签：	程序设计计算机/网络

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ISBN：	9787121327001	出版时间：	2017-10-01	包装：	平装
开本：	16开	页数：	308	字数：

内容简介

　　本书是《模拟电子系统设计指南：从半导体、分立元件到TI集成电路的分析与实现》一书的实践篇，重点在于介绍模拟电子系统中典型单元硬件电路的设计、实现和验证方法。本分共分为14章，包括构建模拟电子系统的基本知识、SPICE仿真工具、测试仪器原理、信号时域和频域表示、二极管电路设计与验证、双极结性晶体管电路设计与验证、金属氧化物场效应晶体管电路设计与验证、运算放大器电路设计与验证、集成差动放大器电路设计与验证、有源滤波器电路设计与验证、功率放大器电路设计与验证、振荡器电路设计与验证、电源管理器电路设计与验证、自动测试系统的原理及构建。

作者简介

　　何宾，著名的嵌入式技术和EDA技术专家，长期从事电子设计自动化方面的教学和科研工作，与全球多家知名的半导体厂商和EDA工具厂商大学计划保持紧密合作。目前已经出版嵌入式和EDA方面的著作近30部，内容涵盖电路仿真、电路设计、可编程逻辑器件、数字信号处理、单片机、嵌入式系统、片上可编程系统等。典型的代表作有《Xilinx FPGA设计**指南》、《Altium Designer13.0电路设计、仿真与验证**指南》、《Xilinx FPGA数字设计-从门级到行为级的双重描述》、《Xilinx FPGA数字信号处理**指南-从HDL、模型到C的描述》、《模拟与数字系统协同设计**指南-Cypress集成开发环境》、《STC单片机原理及应用》、《Altium Designer15.0电路仿真、设计、验证与工艺实现**指南》、《STC单片机C语言程序设计》。

图书目录

第1章构建模拟电子系统的基本
知识
1．1电阻
1．1．1轴向引线型电阻
1．1．2电阻网络
1．1．3贴片式电阻元件的封装
1．2电容
1．2．1功能
1．2．2有极性电容
1．2．3无极性电容
1．2．4聚苯乙烯电容
1．2．5真实的电容值
1．2．6电容的寄生效应
1．2．7寄生电容
1．2．8不同类型电容比较
1．3面包板
1．3．1面包板的结构和功能
1．3．2面包板的寄生电容
第2章SPICE仿真工具
2．1Multisim Live特性及应用
2．1．1登录Multisim Live
2．1．2Multisim Live设计流程
2．2TINA仿真工具特性及应用
2．2．1下载和安装TINA仿真工具
2．2．2TI TINA设计流程
第3章测试仪器的原理
3．1数字示波器的原理
3．1．1信号的基本概念
3．1．2示波器分类
3．1．3数字示波器的基本原理
3．1．4性能参数
3．1．5时基显示模式
3．2信号发生器原理
3．2．1信号发生器的功能
3．2．2信号发生器的分类
3．2．3工作原理
3．2．4性能参数
3．3线性直流电源的原理
3．3．1工作原理
3．3．2工作模式
3．3．3性能参数
3．3．4扩展应用
3．4数字万用表的原理
3．4．1工作原理
3．4．2性能参数
3．5频谱分析仪
3．5．1信号的时域和频域表示
3．5．2频谱分析仪的用途
3．5．3频谱分析仪的种类
3．5．4性能参数
3．6直流电子负载
3．6．1电子负载的工作模式
3．6．2性能参数
第4章信号时域和频域表示
4．1实验目的
4．2实验材料及仪器
4．3实验原理
第5章二极管电路设计与验证
5．1二极管I/V曲线测量
5．1．1实验目的
5．1．2实验材料及仪器
5．1．3电路设计原理
5．1．4硬件测试电路
5．1．5测试结果分析
5．2半波整流电路设计和验证
5．2．1实验目的
5．2．2实验材料及仪器
5．2．3电路设计原理
5．2．4硬件测试电路
5．2．5测试结果分析
5．3全波整流电路设计和验证
5．3．1实验目的
5．3．2实验材料及仪器
5．3．3电路设计原理
5．3．4硬件测试电路
5．3．5测试结果分析
5．4桥式整流电路设计和验证
5．4．1实验目的
5．4．2实验材料及仪器
5．4．3电路设计原理
5．4．4硬件测试电路
5．4．5测试结果分析
5．5限幅电路设计和验证
5．5．1实验目的
5．5．2实验材料及仪器
5．5．3电路设计原理
5．5．4硬件测试电路
5．5．5测试结果分析
5．6交流耦合和直流恢复电路设计和
验证
5．6．1实验目的
5．6．2实验材料及仪器
5．6．3电路设计原理
5．6．4硬件测试电路
5．6．5测试结果分析
5．7可变衰减器设计和验证
5．7．1实验目的
5．7．2实验材料及仪器
5．7．3电路设计原理
5．7．4硬件测试电路
5．7．5测试结果分析
第6章双极结型晶体管电路设计与
验证
6．1BJT用作二极管
6．1．1实验目的
6．1．2实验材料及仪器
6．1．3电路设计原理
6．1．4硬件测试电路
6．1．5测试结果分析
6．2BJT输出特性曲线测量
6．2．1实验目的
6．2．2实验材料及仪器
6．2．3电路设计原理
6．2．4阶梯波信号产生方法
6．2．5硬件测试电路
6．2．6测试结果分析
6．3BJT共射极放大电路设计和
验证
6．3．1实验目的
6．3．2实验材料及仪器
6．3．3电路设计原理
6．3．4硬件测试电路
6．3．5测试结果分析
6．4BJT镜像电流源设计和
验证
6．4．1实验目的
6．4．2实验材料及仪器
6．4．3电路设计原理
6．4．4硬件测试电路
6．4．5测试结果分析
6．5基极电流补偿镜像电流源设计和
验证
6．5．1实验目的
6．5．2实验材料及仪器
6．5．3电路设计原理
6．5．4硬件测试电路
6．5．5测试结果分析
6．6零增益放大器设计和验证
6．6．1实验目的
6．6．2实验材料及仪器
6．6．3电路设计原理
6．6．4硬件测试电路
6．6．5测试结果分析
6．7稳压电流源设计和验证
6．7．1实验目的
6．7．2实验材料及仪器
6．7．3电路设计原理
6．7．4硬件测试电路
6．7．5测试结果分析
6．8并联整流器设计和验证
6．8．1实验目的
6．8．2实验材料及仪器
6．8．3电路设计原理
6．8．4硬件测试电路
6．8．5测试结果分析
6．9射极跟随器设计和验证
6．9．1实验目的
6．9．2实验材料及仪器
6．9．3电路设计原理
6．9．4硬件测试电路
6．9．5测试结果分析
6．10差模输入差分放大器电路设计
和验证
6．10．1实验目的
6．10．2实验材料及仪器
6．10．3电路设计原理
6．10．4硬件测试电路
6．10．5测试结果分析
6．11共模输入差分放大器电路设计
和验证
6．11．1实验目的
6．11．2实验材料及仪器
6．11．3电路设计原理
6．11．4硬件测试电路
6．11．5测试结果分析
第7章金属氧化物场效应晶体管电路
设计与验证
7．1MOS用作二极管电路测试
7．1．1实验目的
7．1．2实验材料及仪器
7．1．3电路设计原理
7．1．4硬件测试电路
7．1．5测试结果分析
7．2MOS输出曲线测量
7．2．1实验目的
7．2．2实验材料及仪器
7．2．3电路设计原理
7．2．4硬件测试电路
7．2．5测试结果分析
7．3MOS转移特性曲线测量
7．3．1实验目的
7．3．2实验材料及仪器
7．3．3电路设计原理
7．3．4硬件测试电路
7．3．5测试结果分析
7．4MOS共源极放大电路设计和
验证
7．4．1实验目的
7．4．2实验材料及仪器
7．4．3电路设计原理
7．4．4硬件测试电路
7．4．5测试结果分析
7．5MOS镜像电流源电路设计和
验证
7．5．1实验目的
7．5．2实验材料及仪器
7．5．3电路设计原理
7．5．4硬件测试电路
7．5．5测试结果分析
7．6零增益放大器电路设计和
验证
7．6．1实验目的
7．6．2实验材料及仪器
7．6．3电路设计原理
7．6．4硬件测试电路
7．6．5测试结果分析
7．7源极跟随器电路设计和
验证
7．7．1实验目的
7．7．2实验材料及仪器
7．7．3电路设计原理
7．7．4硬件测试电路
7．7．5测试结果分析
7．8差模输入差分放大器电路设计和
验证
7．8．1实验目的
7．8．2实验材料及仪器
7．8．3电路设计原理
7．8．4硬件测试电路
7．8．5测试结果分析
7．9共模输入差分放大器电路设计和
验证
7．9．1实验目的
7．9．2实验材料及仪器
7．9．3电路设计原理
7．9．4硬件测试电路
7．9．5测试结果分析
第8章集成运算放大器电路设计与
验证
8．1同相放大器电路设计和
验证
8．1．1实验目的
8．1．2实验材料及仪器
8．1．3电路设计原理
8．1．4硬件测试电路
8．1．5测试结果分析
8．2反相放大器电路设计和
验证
8．2．1实验目的
8．2．2实验材料及仪器
8．2．3电路设计原理
8．2．4硬件测试电路
8．2．5测试结果分析
8．3电压跟随器电路设计和
验证
8．3．1实验目的
8．3．2实验材料及仪器
8．3．3电路设计原理
8．3．4硬件测试电路
8．3．5测试结果分析
8．4加法器电路设计和验证
8．4．1实验目的
8．4．2实验材料及仪器
8．4．3电路设计原理
8．4．4硬件测试电路
8．4．5测试结果分析
8．5积分器电路设计和验证
8．5．1实验目的
8．5．2实验材料及仪器
8．5．3电路设计原理
8．5．4硬件测试电路
8．5．5测试结果分析
8．6微分器电路设计和验证
8．6．1实验目的
8．6．2实验材料及仪器
8．6．3电路设计原理
8．6．4硬件测试电路
8．6．5测试结果分析
8．7半波整流器电路设计和
验证
8．7．1实验目的
8．7．2实验材料及仪器
8．7．3电路设计原理
8．7．4硬件测试电路
8．7．5测试结果分析
8．8全波整流器电路设计和
验证
8．8．1实验目的
8．8．2实验材料及仪器
8．8．3电路设计原理
8．8．4硬件测试电路
8．8．5测试结果分析
8．9单电源同相放大器电路设计和
验证
8．9．1实验目的
8．9．2实验材料及仪器
8．9．3电路设计原理
8．9．4硬件测试电路
8．9．5测试结果分析
第9章集成差动放大器电路设计与
验证
9．1应变力测量电路设计和
验证
9．1．1实验目的
9．1．2实验材料及仪器
9．1．3应变片原理
9．1．4电路设计原理
9．1．5硬件测试电路
9．1．6测试结果分析
9．2热电阻测量电路设计和
验证
9．2．1实验目的
9．2．2实验材料及仪器
9．2．3温度传感器原理
9．2．4电路设计原理
9．2．5硬件测试电路
9．2．6测试结果分析
第10章有源滤波器电路设计与
验证
10．1一阶有源低通滤波器电路设计
和验证
10．1．1实验目的
10．1．2实验材料及仪器
10．1．3电路设计原理
10．1．4硬件测试电路
10．1．5测试结果分析
10．2一阶有源高通滤波器电路设计
和验证
10．2．1实验目的
10．2．2实验材料及仪器
10．2．3电路设计原理
10．2．4硬件测试电路
10．2．5测试结果分析
10．3一阶有源带通滤波器电路设计
和验证
10．3．1实验目的
10．3．2实验材料及仪器
10．3．3电路设计原理
10．3．4硬件测试电路
10．3．5测试结果分析
10．4一阶有源带阻滤波器电路设计
和验证
10．4．1实验目的
10．4．2实验材料及仪器
10．4．3电路设计原理
10．4．4硬件测试电路
10．4．5测试结果分析
10．5二阶有源低通滤波器电路设计
和验证
10．5．1实验目的
10．5．2实验材料及仪器
10．5．3电路设计原理
10．5．4硬件测试电路
10．5．5测试结果分析
第11章功率放大器电路设计与
验证
11．1B类功率放大器电路设计和
验证
11．1．1实验目的
11．1．2实验材料及仪器
11．1．3电路设计原理
11．1．4硬件测试电路
11．1．5测试结果分析
11．2AB类功率输出放大器电路设计
和验证（一）
11．2．1实验目的
11．2．2实验材料及仪器
11．2．3电路设计原理
11．2．4硬件测试电路
11．2．5测试结果分析
11．3AB类功率输出放大器电路设计
和验证（二）
11．3．1实验目的
11．3．2实验材料及仪器
11．3．3电路设计原理
11．3．4硬件测试电路
11．3．5测试结果分析
第12章振荡器电路设计与验证
12．1移相振荡器电路设计和
验证
12．1．1实验目的
12．1．2实验材料及仪器
12．1．3电路设计原理
12．1．4硬件测试电路
12．1．5测试结果分析
12．2文氏桥振荡器电路设计和
验证
12．2．1实验目的
12．2．2实验材料及仪器
12．2．3电路设计原理
12．2．4硬件测试电路
12．2．5测试结果分析
第13章电源管理器电路设计与
验证
13．1线性电源电路设计和
验证
13．1．1实验目的
13．1．2实验材料及仪器
13．1．3电路设计原理
13．1．4硬件测试电路
13．1．5测试结果分析
13．2降压型开关电源设计与
验证
13．2．1实验目的
13．2．2实验材料和仪器
13．2．3电路设计原理
13．2．4硬件测试电路
13．2．5测试结果分析
13．3升压型开关电源设计与
验证
13．3．1实验目的
13．3．2实验材料和仪器
13．3．3电路设计原理
13．3．4硬件测试电路
13．3．5测试结果分析
第14章模拟电路自动测试系统的
构建
14．1实验目的
14．2实验材料及仪器
14．3设计原理
14．3．1测试仪器通过网络与上位机
连接
14．3．2自动测试过程的实现