脑肿瘤高级成像

定　价：¥218.00

作　者：	（美）Raian Jain,Marco Essig
出版社：	世界图书出版公司
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787519238810	出版时间：	2017-11-01	包装：
开本：	16开	页数：	293	字数：

内容简介

　　一书中，对各种当前可用的应对脑肿瘤患者的诊断方法进行了宽泛的概述。引文章节讨论了有关患者处理和疗效评估的临床要求，并概述了传统及高等级脑肿瘤成像技术的动态。读者可借此了解脑肿瘤的成像特点及其主要的差别。主要内容包括传统形态学成像、灌注成像、胶质瘤DWI成像、扩散张量成像、代谢显像、分子影像等。本书对当前使用的功能成像技术，包括CT、PET和MRI有详尽的描述。读者可了解功能成像技术的适应证、技术需求、面临的挑战，以及它们如何影响脑肿瘤患者的处理。“展望”章节讨论了目前尚处于临床前期及临床研究的检查方法，这些将会对脑肿瘤患者的评价产生重要影响。