篇 光斑定位技术
章 光电测量技术
1.1 引言
1.2 光电测量技术特点与分类
1.2.1 光电测量技术特点
1.2.2 光电测量技术分类
第2章 光斑位置检测技术
2.1 光斑位置测量技术
2.1.1 光斑位置测量概述
2.1.2 光斑位置测量技术
2.2 光斑位置测量技术应用
2.2.1 同轴度测量技术
2.2.2 建筑变形测量技术
2.2.3 光学三维面形测量技术
2.2.4 激光三维面形测量技术
2.2.5 运动测量技术
2.3 光斑位置测量中的数据处理
第3章 光斑位置检测器件
3.1 实现光斑位置检测的器件
3.1.1 CCD器件
3,1.2 CMOS图像传感器
3.1.3 PSD器件
3.2 半导体激光准直光源
3.2.1 激光二极管(LD)
3.2.2 准直透镜
3.2.3 整形棱镜
3.2.4 驱动电路
3.3 PSD器件
3.3.1 横向光电效应简介
3.3.2 PSD性能指标
3.3.3 影响PSD测量精度的因素
3.4 PSD光斑定位技术
3.4.1 PSD应用的原则
3.4.2 光斑定位算法
3.4.3 与光斑定位有关的二维表快速检索算法
3.4.4 PSD器件非线性误差的神经网络修正方法
3.4.5 一维光斑位置传感器非线性误差修正
3.5 环境光的影响与消除
3.5.1 环境光的影响模式
3.5.2 消除环境光影响的方法
3.5.3 试验结果
3.6 用一维PSD实现二维检测
3.6.1 扩大PSD量程的方法
3.6.2 用一维PSD实现二维检测
3.7 光线定位技术
3.8 CMOS图像传感器用作光斑位置传感器的研究
3.8.1 结构形式及物镜几何畸变的校正
3.8.2 基于OV9120的光斑位置传感器设计
3.9 大相对孔径半导体激光准直镜的设计
3.9.1 半导体激光束经圆孔的耦合效率
3.9.2 三片式大相对孔径激光准直物镜的设计
……
第二篇 光斑定位技术应用