焊接残余应力的中子衍射测试技术计算与调控

定　价：¥118.00

作　者：	蒋文春，涂善东，孙光爱
出版社：	科学出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787030612403	出版时间：	2019-06-01	包装：
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内容简介

　　本书基于中子衍射应力测试科学平台和有限元分析软件，介绍焊接残余应力的中子衍射测试技术与有限元模拟方法。全书主要内容包括中子衍射残余应力测试装置、理论与方法，焊接残余应力的计算方法、强化模型与取样尺寸对残余应力的影响、残余应力在疲劳和高温环境下的演变规律、低温马氏体相变、焊接残余应力的调控理论及模拟手段、厚板焊接残余应力的有限元简化算法等。