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互换性与技术测量基础

互换性与技术测量基础

定 价:¥38.00

作 者: 王莉静,郝龙,吴金文 著
出版社: 华中科技大学出版社
丛编项:
标 签: 暂缺

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ISBN: 9787568059763 出版时间: 2020-05-01 包装: 平装
开本: 32开 页数: 字数:  

内容简介

  本书分为9章,主要包括我国公差与配合方面的最*标准,阐述了技术测量的基本原理,主要包括绪论,测量技术基础,极限与配合,几何公差,表面粗糙度及其评定,光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计,常用典型件的互换性,圆柱齿轮公差与检测,尺寸链计算。

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