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公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

定 价:¥59.00

作 者: 张静,张明,方春慧 编
出版社: 北京理工大学出版社
丛编项:
标 签: 暂缺

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ISBN: 9787568287173 出版时间: 2020-08-01 包装: 平装
开本: 16开 页数: 190 字数:  

内容简介

  《公差配合与技术测量》系统地介绍了公差配合与技术测量方面的基础知识,全书共分6个项目,并以情境任务的形式进行讲解,通俗易懂,实用性强,主要内容包括:绪论、公差与配合、测量技术基础与光滑尺寸检测、几何公差及检测、表面粗糙度的检测、常用结构件的公差配合与检测。该书采用新国家标准,侧重于基本概念的讲解与常用测量方法和测量工具的运用,内容简明扼要、通俗易懂。在编排上,该书注重理论与实践相结合,采用项目化教学模式,通过实际情境引出学习内容,每个项目分为若干任务,每个任务由任务描述与要求、任务知识准备、任务实施组成,正文中还设置了小提示、知识链接等特色模块,意在提高学生的学习兴趣。《公差配合与技术测量》可作为高等院校机械类和近机类各专业的教学用书,也可作为从事机械设计与制造、标准化、计量测试等工程技术人员的参考用书。

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