集成电路开发与测试（初级）

定　价：¥48.00

作　者：	吕坤颐，夏著，杭州朗迅科技有限公司组编
出版社：	高等教育出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

购买这本书可以去

ISBN：	9787040553260	出版时间：	2021-01-01	包装：	平装
开本：		页数：	232	字数：

内容简介

　　本书是1+X职业技能等级证书配套教材，对应于“集成电路开发与测试”职业技能等级证书，涵盖初级证书相关工作领域，由版职业素养、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用6个项目组成，针对见习流片操作员、见习外观检验员、见习测试员、见习生产保障技术员等岗位涉及的工作领域和任务所需的职业技能要求介绍相关理论知识和实操内容。本书可作为“集成电路开发与测试”1+X职业技能等级证书（初级）的培训认证教材，也可作为中职学校及高等职业院校相关实践环节教学用书及集成电路相关行业及企业员工的岗前培训教材，还可供工程技术人员参考使用。