临床X线头影测量学（第2版）

定　价：¥199.00

作　者：	田乃学，卢海平，刘怡著
出版社：	人民卫生出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787117316729	出版时间：	2021-07-01	包装：	精装
开本：	16开	页数：		字数：

内容简介

　　第2版延续第1版风格，通过大量临床病例照片并采用新的统一且规范化的描图和定点的方法要求，详细介绍了头颅定位X线拍摄技术；头颅定位侧位片上各主要影像的解剖结构及描迹图；常用头颅定位侧位影像测量标志点；头影测量平面；常用X线头影分析法；头颅正位片的测量分析；X线头影测量中的误区；关于X线头影测量的可靠性问题；计算机头影测量与CBCT的应用，以及数字化头影测量。还对X线头影测量中存在的大量误区进行了分析，并提出了改正意见。

作者简介

　　浙江中医药大学口腔医学院顾问，资深X线头影测量学领域专家，特邀讲师，多年从事教学工作。曾与傅民魁教授共同编写第一部《口腔X线头影测量理论与实践》及最早的口腔固定矫治技术专著《口腔正畸方丝弓细丝弓矫治技术》，出版多部专著，并在国内外专业杂志上发表10十余篇论文。曾研发我国第一副直丝弓托槽，制作第一副Begg矫治技术标准教学模型，为我国口腔正畸固定矫治技术的引进和发展做出了重要贡献。

图书目录

第一章　X 线头影测量发展简史
第一节　头影测量的起源/ 2
第二节　人类学研究对头影测量的启迪/ 5
第三节　第一个里程碑式贡献/ 7
第四节　X 线头影测量的传奇故事/ 8
第五节　第二个里程碑式贡献/ 9
第六节　X 线头影测量的发展路径/ 11
第七节　小结/ 14
第二章　头颅定位X 线摄像
第一节　头颅定位仪及其定位原理/ 16
第二节　X 线摄像与放大误差/ 18
第三章　描迹图的描迹与构建
第一节　手工描迹所需工具/ 24
第二节　Johnston 均分法/ 25
第三节　精准描迹法/ 32
第四章　头颅放射解剖学与描迹
第五章　头颅定位侧位影像的常用测量标志点
第六章　X 线头影测量平面
第一节　基准平面/113
第二节　硬组织常用测量平面/114
第三节　软组织常用测量平面/118
第七章　X 线头影的常用分析法
第一节　数学测量分析/122
第二节　重叠描迹图形态比较法/194
第八章　头颅正位片的测量分析
第九章　X 线头影测量误区解析
第十章　关于X 线头影测量的可靠性问题
第十一章　计算机X 线头影测量与CBCT 的应用
附　录　数字化X 线头影测量——几何画板技术
一、几何画板的工具介绍/244
二、制作模板/249
三、测量的具体应用/251
四、其他分析法的模板制作及应用/252
参考文献/253