嵌入式处理器片上追踪调试技术

第1章 绪论
1.1 嵌入式系统调试技术概述
1.1.1 嵌入式系统的调试技术
1.1.2 嵌入式系统的片上在线错误检测技术
1.1.3 高性能嵌入式多核DSP
1.2 研究内容
1.3 组织结构
参考文献
第2章 片上调试技术的相关研究
2.1 协议标准
2.1.1 JTAG标准
2.1.2 Nexus标准
2.1.3 MIPI标准
2.2 商业处理器中的片上trace
2.3 支持trace的仿真调试器
2.4 学术研究
参考文献
第3章 调试模型与片上trace
3.1 基于存储元件状态集合的调试模型
3.1.1 处理器系统模型
3.1.2 调试模型
3.2 非入侵可观测性分析
3.3 片上trace调试技术
3.3.1 嵌入式软件的调试阶段
3.3.2 片上trace调试的内在优势
3.3.3 片上trace实现模型
3.4 本章小结
参考文献
第4章 多核片上trace调试框架：TraceDo
4.1 TraceDo框架
4.2 trace信息的采集、压缩与配置
4.2.1 路径trace
4.2.2 数据trace
4.2.3 事件trace
4.2.4 功能配置方式
4.3 Trace信息采集压缩方法的相关研究及比较
4.4 路径trace方案实验评估
4.4.1 路径trace实验环境
4.4.2 路径trace实验结果
4.4.3 事件trace实验结果
4.5 本章小结
参考文献
第5章 trace片上传输结构
5.1 trace流传输问题分析
5.2 核内trace流的两级缓冲传输结构
5.2.1 核内trace流传输的实现结构
5.2.2 K-N缓冲结构模型与面积建模
5.2.3 面积-溢出折中的结构参数选择
5.3 核间tmce流的合成调度算法
5.3.1 trace流合成的分析与相关研究
5.3.2 trace流的合成调度算法
5.3.3 性能评估与比较
5.4 本章小结
参考文献
第6章 Trace辅助的程序分析、调试与调优
6.1 片上trace应用概述
6.2 多核程序的分析与调优
6.2.1 基于Qlink传输的2D-FFT并行算法
6.2.2 TraceDo辅助的程序分析与调优
6.3 路径trace支持的预取排布
6.3.1 相关研究
6.3.2 程序周期行为
6.3.3 执行周期预取
6.3.4 面向周期预期的代码排布
6.3.5 性能评估与比较
6.4 本章小结
参考文献
第7章 程序控制流错误的检测方法：V-CFC
7.1 程序控制流错误及检测
7.1.1 概述
7.1.2 控制流错误类型分析
7.1.3 相关研究
7.2 V—CFC方法
7.2.1 概述
7.2.2 层次化特征值
7.2.3 特征值指令
7.2.4 特征值检查
7.2.5 特征值指令优化
7.2.6 增加覆盖率的措施
7.3 软硬件实现
7.4 性能评估
7.4.1 方法与环境
7.4.2 特征值混淆
7.4.3 存储耗费与性能代价
7.4.4 故障覆盖率
7.4.5 故障检测延迟
7.4.6 综合性能比较
7.5 本章小结
参考文献
缩略语