原子力显微镜及聚合物微观结构与性能

目录
第1章 扫描探针显微镜概述 1
1.1 显微镜发展简史 1
1.2 扫描探针显微镜的工作原理 3
1.3 扫描探针显微镜的特点 6
参考文献 8
第2章 原子力显微镜 10
2.1 仪器结构与成像原理 10
2.1.1 探针扫描系统 11
2.1.2 力检测与反馈控制系统 15
2.1.3 隔振降噪系统 17
2.2 探针-样品间相互作用力 18
2.3 AFM基础成像模式 19
2.3.1 接触模式 20
2.3.2 轻敲模式 21
2.3.3 峰值力轻敲模式 24
2.3.4 非接触模式 25
2.4 AFM衍生成像模式 26
2.4.1 扫描热显微镜 26
2.4.2 静电力显微镜 27
2.4.3 磁力显微镜 30
2.4.4 摩擦力显微镜 30
2.4.5 开尔文探针力显微镜 31
2.4.6 压电力显微镜 32
2.4.7 导电原子力显微镜 33
2.4.8 光导原子力显微镜 34
参考文献 34
第3章 轻敲模式在聚合物微观结构及其动力学研究中的应用 37
3.1 聚合物表面分子动力学 37
3.2 嵌段共聚物自组装 38
3.3 聚合物单链构象 41
3.4 聚合物刺激响应行为 44
3.5 聚合物界面反应动力学 45
3.6 聚合物次表面结构 46
参考文献 48
第4章 AFM纳米力学图谱及其应用 53
4.1 引言 53
4.2 接触力学 55
4.2.1 非黏附Hertzian接触模型 56
4.2.2 Bradley刚体黏附接触模型 57
4.2.3 Johnson-Kendall-Roberts黏附接触模型 57
4.2.4 Derjaguin-Muller-Toporov黏附接触模型 58
4.2.5 Tabor数与Maugis-Dugdale黏附接触模型 59
4.2.6 黏附图 60
4.3 AFM纳米力学图谱 61
4.4 AFM纳米力学图谱应用 62
4.4.1 聚合物纳米纤维 63
4.4.2 聚合物薄膜 64
4.4.3 聚合物共混物及复合材料 65
参考文献 71
第5章 AFM纳米流变及其应用 76
5.1 引言 76
5.2 基于力调制模式纳米流变 77
5.3 基于接触共振模式纳米流变 79
5.4 基于AFM force volume模式纳米流变 81
参考文献 87
第6章 AFM-IR及其应用 90
6.1 引言 90
6.2 AFM-IR的工作原理 92
6.3 AFM-IR的应用 94
6.3.1 多组分聚合物体系中定性和定量分析 94
6.3.2 聚合物复合材料界面 99
6.3.3 聚合物老化 100
6.3.4 聚合物-药物相容性 102
6.3.5 聚合物其他微观结构的表征 103
参考文献 105
第7章 AFM在高分子结晶研究中的应用 109
7.1 高分子成核 109
7.1.1 均相成核与自诱导成核 109
7.1.2 流动诱导成核 112
7.2 结晶与熔融过程 114
7.2.1 结晶过程原位表征 114
7.2.2 晶体的熔融过程 116
7.2.3 嵌段共聚物受限结晶 118
7.3 结晶形态结构分析 120
7.3.1 结晶结构的确定 120
7.3.2 高分子片晶不稳定生长 122
7.3.3 超薄膜中高分子片晶生长取向转变 124
7.3.4 片晶尺度结构与性能关系 127
参考文献 129
第8章 AFM在聚合物太阳能电池研究中的应用 140
8.1 薄膜活性层形貌 141
8.2 电学特性 143
参考文献 148
第9章 AFM假像与测量误差 152
9.1 针尖效应 152
9.1.1 展宽与窄化 153
9.1.2 双针尖或多针尖效应 153
9.2 压电陶瓷扫描器效应 154
9.2.1 蠕变效应 154
9.2.2 迟滞效应 156
9.2.3 交叉耦合效应 156
9.2.4 老化效应 156
9.3 参数设置 158
9.4 侧向分辨率 159
9.4.1 针尖几何参数 159
9.4.2 弹性形变 161
9.4.3 像素数 162
9.5 其他引起假像的因素 162
9.5.1 热漂移 162
9.5.2 光学干涉 162
9.5.3 机械振动和噪声 163
9.5.4 污染 163
9.6 AFM纳米力学性能测量误差 164
9.6.1 针尖曲率半径 164
9.6.2 微悬臂弹性系数 165
9.7 AFM样品制备 167
9.7.1 溶液涂膜 167
9.7.2 冷冻超薄切片 168
9.7.3 液相样品制备 168
参考文献 168
关键词索引 171