材料现代分析与测试技术（第2版）

第1章 X射线衍射分析
1．1 X射线的性质及X射线的产生
1．1．1 X射线的性质
1．1．2 X射线的产生
1．1．3 X射线谱
1．1．4 X射线的吸收和单色X射线的获得
1．2 X射线与物质的相互作用
1．2．1 散射效应
1．2．2 光电效应
1．3 X射线衍射的基本理论
1．3．1 倒易点阵
1．3．2 X射线衍射几何条件
1．3．3 X射线衍射线束的强度
1．4 X射线衍射分析方法
1．4．1 多晶体材料衍射分析研究方法
1．4．2 单晶体材料衍射分析研究方法
1．5 衍射数据的基本处理
1．5．1 人工数据处理
1．5．2 计算机数据处理
1．6 X射线衍射的分析与应用
1．6．1 X射线衍射分析的应用
1．6．2 人工手动分析与应用
1．6．3 计算机程序分析与应用
参考文献
第2章 电子显微分析
2．1 电子光学基础
2．1．1 显微镜的分辨率及光学显微镜的局限性
2．1．2 电子的波性及波长
2．1．3 电子在电磁场中的运动与电磁透镜
2．1．4 电磁透镜的像差
2．1．5 电磁透镜的理论分辨率
2．1．6 电磁透镜的场深和焦深
2．2 电子与固体物质的相互作用
2．2．1 电子与固体物质作用的物理过程
2．2．2 电子与固体物质相互作用产生的信号
2．2．3 相互作用体积与信号产生的深度和广度
2．3 透射电子显微镜
2．3．1 透射电子显微镜的发展
2．3．2 透射电子显微镜的基本结构
2．3．3 透射电子显微镜的主要性能指标
2．3．4 透射电子显微镜的样品制备
2．4 电子衍射
2．4．1 电子衍射的特点
2．4．2 电子衍射基本公式
2．4．3 单晶电子衍射谱
2．4．4 多晶电子衍射谱
2．4．5 透射电子显微镜中的电子衍射方法
2．4．6 电子衍射谱的标定
2．4．7 电子衍射物相分析的特点
2．5 透射电子显微像及其衬度
2．5．1 质厚衬度与复型膜电子像
2．5．2 薄晶体电子显微像及其衬度
2．6 扫描电子显微镜
2．6．1 扫描电子显微镜的发展
2．6．2 扫描电镜的工作原理及特点
2．6．3 扫描电镜的基本结构
2．6．4 扫描电镜的主要性能指标
2．6．5 扫描电镜的场深
2．6．6 扫描电镜的样品制备
2．7 扫描电镜像及其衬度
2．7．1 扫描电镜像的衬度
2．7．2 二次电子像
2．7．3 背散射电子像
2．7．4 吸收电子像
2．8 电子探针X射线显微分析
2．8．1 电子探针的结构及工作原理
2．8．2 波谱仪
2．8．3 能谱仪
2．8．4 波谱仪和能谱仪的比较
2．8．5 电子探针分析方法及其应用
2．9 扫描探针显微分析
2．9．1 扫描隧道显微镜及其应用
……
第3章 热分析
第4章 振动光谱分析
第5章 电子能谱分析
第6章 发光材料光谱分析
第7章 核磁共振
第8章 分析测试方法知识体系再整合
参考文献