X射线荧光光谱分析（第三版）

第一章绪论1
第一节X射线的发现与基本特性1
第二节X射线光谱分析3
一、X射线荧光光谱3
二、X射线吸收光谱4
第三节X射线光谱分析装置研发新发展5
一、能量探测器5
二、微区XRF分析装置与应用6
三、全反射X射线光谱装置与应用7
四、实验室小型X射线吸收谱测定装置与应用7
五、当代X射线探测技术发展与应用9
参考文献10
第二章基本原理12
第一节特征X射线的产生与特性12
一、特征X射线12
二、特征谱线系13
三、谱线相对强度15
四、荧光产额16
第二节X射线吸收17
一、X射线吸收和衰减17
二、吸收边19
三、吸收跃变19
四、质量衰减系数特性与计算19
第三节X射线散射21
一、相干散射22
二、非相干散射22
三、吸收、衰减与散射作用关系与效应24
第四节X射线荧光光谱分析原理28
第五节X射线衍射分析28
参考文献29
第三章激发源30
第一节常规X射线管30
一、常规X射线管结构与工作原理30
二、连续X射线谱33
三、特征X射线谱34
四、X射线管特性35
第二节非常规X射线管38
一、旋转阳极靶38
二、液体金属阳极靶38
三、冷X射线管39
第三节选择性激发40
一、滤光片41
二、二次靶45
第四节偏振光激发46
一、X射线偏振效应46
二、X射线偏振靶47
三、偏振激发应用效果47
第五节单色光激发47
第六节同位素源48
第七节聚束毛细管X射线光源49
第八节X射线激光光源51
参考文献52
第四章探测器54
第一节波长色散探测器54
一、流气式正比计数器54
二、NaI闪烁计数器55
三、波长色散探测器的逃逸峰56
第二节能量探测器57
一、能量探测原理57
二、能量探测器组成与特性58
三、能量探测器的逃逸峰59
第三节新型能量探测器59
一、Ge探测器59
二、SiPIN探测器60
三、Si漂移探测器62
四、电荷耦合阵列探测器64
五、超导跃变微热量感应器64
六、超导隧道结探测器65
七、CdZnTe探测器66
八、钻石探测器67
九、无定形硅探测器68
第四节各种探测器性能比较69
一、波长色散与能量色散能力69
二、探测器分辨率比较69
三、探测器的选用70
参考文献72
第五章X射线荧光光谱仪73
第一节波长色散X射线荧光光谱仪73
一、X射线管、探测器与光谱仪结构73
二、准直器74
三、分光晶体与分辨率74
四、脉冲放大器和脉高分析器75
第二节能量色散X射线荧光光谱仪78
第三节同位素源激发和偏振激发X射线荧光光谱仪79
一、同位素源激发79
二、偏振激发79
第四节全反射X射线荧光光谱仪80
一、全反射原理与痕量元素分析81
二、TXRF轻元素分析82
三、X射线驻波原理与层叠物表层及埋层元素组成与分布分析84
第五节聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪89
第六节X射线光谱分析技术发展新趋势、新方向90
一、新趋势——单色偏振聚焦全反射XRF光谱联用分析技术90
二、新发展——实验室小型X射线吸收谱分析装置92
三、新方向——μ子X射线光谱分析102
参考文献104
第六章定性与定量分析方法106
第一节定性分析106
一、判定特征谱线106
二、干扰识别107
第二节定量分析109
一、获取谱峰净强度109
二、干扰校正109
三、浓度计算110
第三节数学校正法111
第四节实验校正方法112
一、标准化112
二、内标法112
三、标准添加法113
四、散射线内标法113
第五节实验校正实例——散射线校正方法114
参考文献118
第七章基体校正119
第一节理论荧光强度和基本参数法120
一、理论荧光强度120
二、基本参数计算123
三、基本参数法125
第二节基本影响系数和理论校正系数126
一、基本影响系数126
二、理论校正系数130
三、系数变换133
参考文献135
第八章分析误差和统计不确定136
第一节分析误差和分布函数136
一、分析误差136
二、分布函数137
第二节计数统计学137
第三节灵敏度与检出限140
一、灵敏度140
二、检出限141
第四节误差来源与不确定度计算143
一、XRF中的误差来源143
二、测量不确定度144
三、统计不确定度144
四、误差传递与不确定度144
五、不确定度计算式145
六、平均值的不确定度计算146
七、统计波动147
参考文献148
第九章XRF中的化学计量学方法和应用149
第一节曲线拟合与遗传算法149
一、遗传算法150
二、遗传算法在XRF中的应用150
三、不同拟合方法的比较151
第二节基体校正与神经网络152
一、神经网络的发展与学习规则153
二、神经网络模型——误差反传学习算法154
三、神经网络及相关化学计量学方法在XRF中的应用155
第三节模式识别156
一、模式识别方法与特性156
二、支持向量机157
三、模式识别方法在XRF中的应用157
参考文献158
第十章样品制备160
第一节制样技术分类161
第二节分析制样中的一般问题162
一、样品的表面状态162
二、不均匀性效应162
三、样品粒度与制样压力162
四、X射线分析深度与样品厚度163
五、样品的光化学分解165
六、其他问题165
第三节金属样品的制备168
一、取样168
二、金属样品的制备方法168
第四节粉末样品的制备169
一、粉末压片法170
二、玻璃熔片法172
三、松散粉末法178
第五节液体样品的制备179
一、液体法179
二、点滴法180
三、富集法181
四、固化法182
第六节其他类型样品的制备182
一、塑料样品的制备方法182
二、放射性样品182
第七节微少量、微小样品的制备183
第八节低原子序数元素分析的特殊问题185
第九节样品制备实例187
一、全岩分析187
二、石灰、白云石灰和铁石灰191
三、石灰石、白云石和菱镁矿192
四、天然石膏及石膏副产品193
五、玻璃砂195
六、水泥197
七、氧化铝198
八、电解液199
九、煤衍生物——沥青200
十、树叶和植物203
参考文献204
第十一章X射线荧光光谱仪特性与参数选择206
第一节波长色散型X射线荧光光谱仪特性206
第二节X射线高压发生器207
第三节X射线管特性与选择使用207
第四节滤光片、面罩和准直器209
第五节晶体适用范围及其选择210
第六节2θ联动装置214
第七节测角仪214
第八节探测器特性与使用215
一、闪烁计数器215
二、气体正比计数器216
三、探测器的选择标准218
第九节脉冲高度分析器219
第十节实验参数的选择221
一、仪器参数的选择221
二、光学参数的选择223
三、探测器与测量参数的选择224
第十一节能量色散XRF光谱仪的特性和注意事项226
参考文献227
第十二章仪器检定、校正与维修228
第一节仪器检定228
一、实验室条件228
二、检验项目及测量方法228
三、技术指标230
第二节脉冲高度分析器的调整及仪器漂移的校正231
一、脉冲高度分析器的调整231
二、仪器漂移的校正232
第三节日常维护233
一、真空泵油位检查233
二、P10气体的更换233
三、高压漏气检测233
四、密闭冷却水循环系统的检测234
五、检查初级水过滤器234
六、X射线管的老化处理234
七、日常检查项目235
第四节常见故障及维护235
一、机械问题235
二、X射线高压发生器235
三、真空度不好236
四、探测器的故障236
五、样品室灰尘的清扫236
第五节仪器选型常用标准与判据237
一、硬件237
二、软件237
参考文献240
第十三章同步辐射X射线荧光光谱分析技术与应用241
第一节同步辐射技术的特点与发展241
一、同步辐射的特点241
二、同步辐射装置的现状和发展242
第二节同步辐射原理244
一、同步辐射装置244
二、同步辐射基本线站及应用246
第三节同步辐射X射线荧光分析技术247
一、SRXRF技术的优势247
二、SRXRF实验装置249
三、SRXRF应用251
第四节同步辐射X射线吸收精细结构谱与应用251
一、XAFS原理251
二、XAFS谱测定方法252
三、XAFS实验方法254
四、XANES原理及应用255
五、EXAFS原理及应用256
参考文献256
第十四章微区X射线荧光光谱分析与应用257
第一节发展历程与研究现状257
第二节实验装置259
第三节研究应用259
一、颗粒物分析259
二、生物样品分析260
三、地质样品分析260
四、考古样品分析261
五、司法鉴定和指纹样品分析261
六、三维信息获取261
参考文献262
第十五章X射线光谱在生命起源和全球气候变化等若干重大科学问题中的研究进展263
第一节生命起源与X射线光谱分析技术263
一、RNA有机合成理论与XRS263
二、深海热液新陈代谢理论与XRS265
三、生命进化过程与XRS267
第二节早期生命寻迹与X射线光谱分析技术269
一、早期生命寻迹269
二、早期生命质疑269
三、早期生命质证与X射线光谱270
第三节全球气候变化与X射线光谱分析技术273
一、全球气候变化273
二、全球气候变化研究中的科学问题274
三、全球气候变化研究中的XRS分析技术275
第四节地质样品分析277
一、地质样品熔融制样特点277
二、地质样品分析277
三、现场分析279
第五节生态环境样品分析279
一、工业废弃物279
二、矿山污染物280
三、城市污染物280
第六节生物样品分析281
一、植物样品分析281
二、动物样品分析283
三、人体样品分析284
四、细胞分析285
五、金属蛋白质分析286
第七节活体分析286
一、活体分析装置287
二、骨铅与骨锶分析287
三、肾活体分析288
第八节大气颗粒物分析289
一、来源与危害289
二、成分分析290
三、元素形态分析290
参考文献291
第十六章X射线荧光光谱在半导体材料、冶金和考古样品分析中的应用293
第一节半导体材料分析293
一、TXRF多层膜分析293
二、多层纳米材料元素组分测定与掠入射XRF光谱分析294
三、半导体材料组分和元素形态测定与掠出射TXRF光谱分析295
四、半导体材料生产工艺与XRS分析297
第二节冶金样品分析299
一、合金样品299
二、涂层分析300
三、矿石原料301
四、炉渣分析302
第三节文物样品分析303
一、古陶瓷与古玻璃制品分析303
二、古金属制品304
三、绘画颜料分析305
四、隐文字画复显305
参考文献306
附录插页
附表1元素X射线吸收边和发射谱线能量表插页
附表2元素K、L、M壳层X射线谱线能量307
附表3元素K、L、M层X射线谱线光子能量和相对强度（元素各壳层最强谱线强度设定为100）311
附表4元素电子结合能322
附录参考文献328