片上系统测试设计与优化

定　价：¥88.00

作　者：	（瑞典）埃里克·拉森著；孙仁杰译
出版社：	科学出版社
丛编项：
标　签：	暂缺

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ISBN：	9787030769183	出版时间：	2023-11-01	包装：	平装胶订
开本：	16开	页数：		字数：

内容简介

　　本书旨在讨论片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。《BR》本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。