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公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

定 价:¥35.00

作 者: 周京
出版社: 西安电子科技大学出版社
丛编项:
标 签: 暂缺

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ISBN: 9787560666617 出版时间: 2023-01-01 包装: 平装
开本: 页数: 字数:  

内容简介

  本书结合新时代高职高专院校教育要求和特点,以“必备、够用”为原则组织内容,力求语言简练、条理清晰、深入浅出,以任务引入与思考的方式引导相关的内容学习,强化理论性与应用性的结合。 本书共分八个项目,分别为绪论、测量技术基础、极限与配合基础、形状和位置公差、光滑极限量规设计、表面粗糙度及检测、螺纹结合的公差与检测、圆锥的公差配合及测量。 本书适合高职高专院校机械类、机电类及其他相关专业使用,也适合制造行业的工程技术人员、管理人员、操作人员阅读参考。

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