\"随着各种高新技术的应用,雷达呈现复杂化、精密化和自动化的发展趋势,对其测试性和维修性也提出了 高的要求。在提高雷达测试性和维修性的众多措施中,机内测试(Built-in Test,BIT)技术是近年来 成功、 的技术手段,是复杂电子装备整体设计、分系统设计、状态监测、故障诊断、维修决策等方面的关键共性技术。在当前雷达BIT技术中,存在状态监测点设置不合理、监测深度不够、虚警率高等问题,一直阻碍着雷达BIT效能的充分发挥和 广泛、 深入的应用。为解决常规BIT中存在的各种问题,本书将智能BIT技术应用在状态监测与虚警抑制方面,重点介绍雷达智能BIT技术、雷达状态监测点的优化与诊断策略设计方法、雷达智能BIT整机性能监测方法、雷达BIT虚警分析及虚警抑制技术等内容。本书由长期从事雷达信号处理领域的研究人员编写,总结凝练了 科学研究成果。本书的出版,可为该领域的一线科研人员、相关领域的研究者和高校的人才培养提供智力支持,为雷达成像尤其是双基地ISAR提供理论和技术支撑。\"