二氧化硅低维微：纳米材料的制备及其光学性能

1 绪论
1.1 二氧化硅的结构、性质及其应用
1.1.1 二氧化硅的结构与性质
1.1.2 二氧化硅纳米材料的应用
1.2 微/纳米二氧化硅的制备
1.2.1 制备方法
1.2.2 生长机制
2 实验设备与测试方法
2.1 实验设备
2.1.1 高温管式炉
2.1.2 直联旋片式真空泵
2.1.3 超声波清洗仪
2.1.4 水平电子天平秤
2.2 实验材料
2.2.1 实验材料及气体
2.2.2 衬底预处理
2.3 实验表征与测试
2.3.1 扫描电子显微镜
2.3.2 能谱
2.3.3 透射电子显微镜和选区电子衍射
2.3.4 X射线衍射谱
2.3.5 拉曼光谱
2.3.6 光致发光光谱
2.3.7 紫外-可见吸收光谱
3 复合结构二氧化硅低维材料的制备及性能
3.1 二氧化硅纳米晶体镶嵌非晶二氧化硅纳米线
3.1.1 引言
3.1.2 实验
3.1.3 结果和讨论
3.1.4 小结
3.2 Si纳米晶嵌入对二氧化硅纳米网状发光性能的影响
3.2.1 引言
3.2.2 实验
3.2.3 结果和讨论
3.2.4 小结
3.3 非晶态二氧化硅包覆的平行超细二氧化硅纳米线
3.3.1 引言
3.3.2 实验
3.3.3 结果和讨论
3.3.4 小结
3.4 二氧化硅纳米线/纳米颗粒复合结构的制备及光致发光性能研究
3.4.1 引言
3.4.2 实验
3.4.3 结果和讨论
3.4.4 小结
4 热蒸发法中实验参数的影响
4.1 Pt催化剂对二氧化硅微/纳米线材料和光学性质的影响
4.1.1 引言
4.1.2 实验
4.1.3 结果和讨论